微处理器浮点运算功能的测试方法研究

该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法，该方法的测试工作量少、测试时间短，而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明，该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。