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Growth of Strained Si_(1-x)Ge_x Layer by UV/UHV/CVD
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作者 胡辉勇 张鹤鸣 +6 位作者 戴显英 李开成 王伟 朱永刚 王顺祥 崔晓英 王喜媛 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期641-644,共4页
Strained Si_ 1-xGe_x and Si materials are successfully grown on Si substrate by ultraviolet light chemical vapor deposition under ultrahigh vacuum at a low substrate temperature of 450℃ and 480℃,respectively.At such... Strained Si_ 1-xGe_x and Si materials are successfully grown on Si substrate by ultraviolet light chemical vapor deposition under ultrahigh vacuum at a low substrate temperature of 450℃ and 480℃,respectively.At such low temperature,autodoping effects from the substrate and interdiffusion effects at each interface could be suppressed efficiently.The strained Si_ 1-xGe_x and multilayer Si_ 1-xGe_x/Si structures are examined by X-ray diffraction,SMIS,etc.,and it is found that the materials have good crystallinity and the rising and falling edges are steep.The technique has a capability of growing high-quality Si_ 1-xGe_x/Si strained layers. 展开更多
关键词 Si_ 1-xge_x ultrahigh vacuum ultraviolet light chemical vapor deposition
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基于Si/Si_(1-x)Ge_x/Si HBT的微波功率器件Ge组分的数值拟合计算
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作者 曾健平 周少华 +2 位作者 文剑 李宇 田涛 《电子器件》 CAS 2005年第2期251-253,共3页
采用异质结双台面双极型结构设计微波功率器件,选择Si作发射区和集电区,Si1-xGex合金作基区的n-p-n型HBT,利用数学方法,通过实验数据,采用MATLAB得到了一个比线性化更精确的禁带宽度Eg在300K时关于Ge组分变化的方程。并用数值方法计算... 采用异质结双台面双极型结构设计微波功率器件,选择Si作发射区和集电区,Si1-xGex合金作基区的n-p-n型HBT,利用数学方法,通过实验数据,采用MATLAB得到了一个比线性化更精确的禁带宽度Eg在300K时关于Ge组分变化的方程。并用数值方法计算出集电区电流密度Jc随VBE变化的直流方程,与实验结果相符。并得到一个最佳的Ge组分值。对器件的仿真设计具有实际指导意义。 展开更多
关键词 双极型 微波功率器件 SI1-XGEX 数值方法
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Poly-Si_(1-x)Ge_x栅应变SiN型金属-氧化物-半导体场效应管栅耗尽模型研究
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作者 胡辉勇 雷帅 +4 位作者 张鹤鸣 宋建军 宣荣喜 舒斌 王斌 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2012年第10期376-383,共8页
基于对Poly-Si_(1-x)Ge_x栅功函数的分析,通过求解Poisson方程,获得了Poly-Si_(1-x)Ge_x栅应变SiN型金属-氧化物-半导体场效应器件(NMOSFET)垂直电势与电场分布模型.在此基础上,建立了考虑栅耗尽的Poly-Si_(1-x)Ge_x栅应变Si NMOSFET的... 基于对Poly-Si_(1-x)Ge_x栅功函数的分析,通过求解Poisson方程,获得了Poly-Si_(1-x)Ge_x栅应变SiN型金属-氧化物-半导体场效应器件(NMOSFET)垂直电势与电场分布模型.在此基础上,建立了考虑栅耗尽的Poly-Si_(1-x)Ge_x栅应变Si NMOSFET的阈值电压模型和栅耗尽宽度及其归一化模型,并利用该模型,对器件几何结构参数、物理参数尤其是Ge组分对Poly-Si_(1-x)Ge_x栅耗尽层宽度的影响,以及栅耗尽层宽度对器件阈值电压的影响进行了模拟分析.结果表明:多晶耗尽随Ge组分和栅掺杂浓度的增加而减弱,随衬底掺杂浓度的增加而增强;此外,多晶耗尽程度的增强使得器件阈值电压增大.所得结论能够为应变Si器件的设计提供理论依据. 展开更多
关键词 Poly-Si_1-xge_x 应变SI 栅耗尽 阈值电压
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应变Ge空穴有效质量的各向异性与各向同性
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作者 戴显英 杨程 +3 位作者 宋建军 张鹤鸣 郝跃 郑若川 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2012年第23期404-409,共6页
在利用k·p微扰理论获得应变Ge/Si_(1-x)Ge_x价带E(k)-k关系的基础上,研究得到了(001),(101),(111)面应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿不同晶向及各向同性的价带空穴有效质量.结果显示,应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿各晶向的带边有效质量随应力增大... 在利用k·p微扰理论获得应变Ge/Si_(1-x)Ge_x价带E(k)-k关系的基础上,研究得到了(001),(101),(111)面应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿不同晶向及各向同性的价带空穴有效质量.结果显示,应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿各晶向的带边有效质量随应力增大而减小,且沿[010]晶向最小;子带空穴有效质量在应力较大时变化不明显,并且在数值上与带边空穴有效质量相差不大.最后利用各向同性有效质量与文献结果进行比对,验证了结果的正确性. 展开更多
关键词 应变Ge/Si_1-xge_x 空穴有效质量 价带结构各向异性与各向同性
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