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灿芯半导体USB2.0 OTGPHY通过USB-IF认证
1
《集成电路应用》
2013年第5期44-44,共1页
灿芯半导体(上海)有限公司近日宣布其基于中芯国际0.11微米工艺平台开发的USB2.0物理层设计(PHY)USB—IF的高速产品测试程序,并取得了USB—IF的高速产品商标。该USB2.0物理层设计同时支持器件和主机应用的On.The—Go(OTG)规...
灿芯半导体(上海)有限公司近日宣布其基于中芯国际0.11微米工艺平台开发的USB2.0物理层设计(PHY)USB—IF的高速产品测试程序,并取得了USB—IF的高速产品商标。该USB2.0物理层设计同时支持器件和主机应用的On.The—Go(OTG)规范,可以用于所有需要USB2.0的相关产品,如实现数据存储的桥应用程序接口以及移动手持设备的SoC整合等。
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关键词
USB2
0
USB-IF
半导体
0
11微米工艺
应用程序接口
认证
移动手持设备
产品商标
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职称材料
题名
灿芯半导体USB2.0 OTGPHY通过USB-IF认证
1
出处
《集成电路应用》
2013年第5期44-44,共1页
文摘
灿芯半导体(上海)有限公司近日宣布其基于中芯国际0.11微米工艺平台开发的USB2.0物理层设计(PHY)USB—IF的高速产品测试程序,并取得了USB—IF的高速产品商标。该USB2.0物理层设计同时支持器件和主机应用的On.The—Go(OTG)规范,可以用于所有需要USB2.0的相关产品,如实现数据存储的桥应用程序接口以及移动手持设备的SoC整合等。
关键词
USB2
0
USB-IF
半导体
0
11微米工艺
应用程序接口
认证
移动手持设备
产品商标
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
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1
灿芯半导体USB2.0 OTGPHY通过USB-IF认证
《集成电路应用》
2013
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