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用于先进的双嵌入和栓工艺的低缺陷钨CMP高性价比浆料(英文)
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作者 Tun-YanLo LIChung-Liu +3 位作者 CHINHung-Chang SimonJ.Kirk PhilippeChelle AraiPeng 《电子工业专用设备》 2004年第6期16-21,共6页
介绍了用于钨双嵌入和钨栓CMP工艺的新型CMP3200TM氧化铝浆料,测试证明,这种浆料在110nm技术节点的钨CMP工艺应用中取得了理想的效果。通过对氧化铝粒子制造工艺的有效控制,获得了可满足110nm技术节点双嵌入和栓层钨CMP工艺要求的低缺陷... 介绍了用于钨双嵌入和钨栓CMP工艺的新型CMP3200TM氧化铝浆料,测试证明,这种浆料在110nm技术节点的钨CMP工艺应用中取得了理想的效果。通过对氧化铝粒子制造工艺的有效控制,获得了可满足110nm技术节点双嵌入和栓层钨CMP工艺要求的低缺陷率,高性价比的氧化铝蛐硝酸铁浆料。从而在价格竞争激烈的半导体制造领域,特别是代工市场引起了业界越来越多的关注。 展开更多
关键词 钨双嵌入工艺 钨栓工艺 CHP浆料 高性价比 低缺陷率 110nm技术节点
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