基于IEEE1149.4标准TAP控制器的设计

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在基于IEEE1149.4标准的混合信号电路的可测性设计中,测试访问口(test access port,TAP)控制器设计的地位比较突出,是非常重要的一环。本文从标准要求出发,对TAP控制采用硬件描述语言加以实现并进行了仿真验证,从仿真结果看该设计是正确可行的。

基于IEEE 1149.4标准的验证电路设计

介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用。

IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。

IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准

模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。

P1149.4混合信号测试、总线综述

所推荐的IEEE标准设法改进混合信号设计和测试质量的可控性与可观察性。评论员将会很快估算出其投票结果。

一种混合信号边界扫描测试系统的设计

IEEE 1149.4的推出为混合信号测试提供了一个标准,推动了混合信号边界扫描测试技术的研究。简要介绍了IEEE 1149.4标准及混合信号测试方法,并根据标准定义的测试结构设计出一种混合信号边界扫描测试系统。经过测试验证,该系统能够对混合信号电路进行互连测试和参数测试,可实现准确的故障诊断,具有一定的实用价值。