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支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究 被引量:1
1
作者 颜学龙 尹亮亮 陈寿宏 《现代电子技术》 北大核心 2017年第4期147-150,共4页
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准... 为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。 展开更多
关键词 IEEE1149.7标准 USB总线 MScan扫描格式 边界扫描控制器
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基于IEEE1149.1至IEEE1149.7转换器的研究与实现 被引量:1
2
作者 颜学龙 王洋冰 陈寿宏 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2016年第11期133-136,141,共5页
IEEE1149.7标准相对于IEEE1149.1标准新增了很多测试与调试的功能,解决了现今复杂度高的芯片和系统无法测试的问题.在深入地研究IEEE1149.1和IEEE1149.7两种标准的基础上,利用自上而下的设计方法完成了由IEEE1149.1信号变为IEEE1149.7... IEEE1149.7标准相对于IEEE1149.1标准新增了很多测试与调试的功能,解决了现今复杂度高的芯片和系统无法测试的问题.在深入地研究IEEE1149.1和IEEE1149.7两种标准的基础上,利用自上而下的设计方法完成了由IEEE1149.1信号变为IEEE1149.7信号转换器的设计,在QuartusⅡ平台中通过Verilog语言实现,将设计应用在FPGA中,并用QuartusⅡ中嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ采集FPGA的输出信号.输出结果表明所设计的方案可以将IEEE1149.1信号转化为IEEE1149.7信号,可用于IEEE1149.7的待测系统进行测试与调试. 展开更多
关键词 IEEE1149.7 转移器 测试与调试
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基于IEEE1149.7标准的TAP.7适配器研究
3
作者 黄新 蔡俊 颜学龙 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第7期1934-1937,1947,共5页
随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临... 随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临的新问题;针对该问题,文章提出了一种基于IEEE 1149.7标准的适配接口TAP.7适配器;结合TAP.7接口结构和新增功能,对TAP.7适配器的设计原理和设计方案进行了详细的介绍;最后对该适配器的TAP.7命令功能和星型扫描技术进行了仿真验证,通过验证结果分析表明:TAP.7适配器实现了TAP.7功能,具备了接口适配的作用,达到了预期的设计目标。 展开更多
关键词 IEEE1149.7标准 TAP.7接口 TAP.7适配器 星型扫描
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IEEE1149.7 T5层数据传输功能的研究
4
作者 颜学龙 王洋冰 陈寿宏 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2016年第8期113-116,共4页
IEEE1149.7标准提出了两线传输机制,并且提供了T0到T5层的芯片内核的设计层次,增加了对芯片内核的测试与调试功能。在深入研究IEEE1149.7的基础上,建立了T5层数据传输功能的模型,利用Quartus II开发平台通过Verilog硬件描述语言设计了IE... IEEE1149.7标准提出了两线传输机制,并且提供了T0到T5层的芯片内核的设计层次,增加了对芯片内核的测试与调试功能。在深入研究IEEE1149.7的基础上,建立了T5层数据传输功能的模型,利用Quartus II开发平台通过Verilog硬件描述语言设计了IEEE1149.7标准中T5层的数据传输功能,并编写Testbech在Modelsim仿真软件中进行仿真验证。结果表明,设计的IP核符合IEEE1149.7中T5层数据传输功能规范。 展开更多
关键词 IEEE 1149.7标准 T5层 数据传输功能 芯片内核
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IEEE 1149.7 CJTAG IP核复位与选择单元模块设计
5
作者 侯杏娜 陈寿宏 +1 位作者 马峻 何正亮 《电子测量技术》 2017年第11期52-55,共4页
在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、I... 在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、IP核在线或离线选择。基于Quartus II应用平台设计,通过ModelSim完成仿真验证。仿真结果表明,该复位与选择单元模块产生的信号符合IEEE1149.7标准规定,能够支持目标芯片IP核实现相应的测试功能。 展开更多
关键词 IEEE 1149.7 CJTAG IP核 复位与选择单元
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IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究 被引量:5
6
作者 杨轲 颜学龙 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第10期147-150,共4页
针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的... 针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号. 展开更多
关键词 IEEE 1149.7标准 两线星型扫描 MSCAN Oscan
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基于IEEE1149.7的新一代测试接口实现与应用 被引量:6
7
作者 徐志磊 郭筝 《信息技术》 2010年第8期164-166,169,共4页
随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统... 随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求。CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149.1的软件和硬件的兼容性。 展开更多
关键词 CJTAG接口 IEEESTD1149.7 JTAG接口 IEEESTD1149.1
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基于1149.7标准的测试生成方法研究 被引量:2
8
作者 潘金海 颜学龙 《计算机测量与控制》 2016年第8期5-8,共4页
单芯片多核设计、片上系统等技术的不断发展为边界扫描技术带来了新的挑战,多扫描拓扑的测试矢量自动生成也成为了研究的重点与热点;基于1149.7标准对测试生成方法进行了研究,包括互连测试矢量、调试应用指令及数据和寄存器配置命令的生... 单芯片多核设计、片上系统等技术的不断发展为边界扫描技术带来了新的挑战,多扫描拓扑的测试矢量自动生成也成为了研究的重点与热点;基于1149.7标准对测试生成方法进行了研究,包括互连测试矢量、调试应用指令及数据和寄存器配置命令的生成,提出了测试生成的总体框架,以VS2008作为软件平台搭建自动测试生成系统,从数据库中提取目标板信息对寄存器进行配置,生成互连测试矢量或调试数据,最后将生成的信息插入数据库中,在互连测试矢量生成过程中,提出了一种基于边界扫描寄存器的功能来设置网络结点类型的新方法,有效地完成了对复杂网络的测试。 展开更多
关键词 IEEE1149.7 边界扫描 互连测试 调试应用 寄存器命令
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基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 被引量:4
9
作者 江坤 高俊强 《国外电子测量技术》 2013年第5期41-43,56,共4页
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以... 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。 展开更多
关键词 IEEE 1149 7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器
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基于FPGA的CJTAG控制器命令控制模块设计 被引量:2
10
作者 颜学龙 尹亮亮 陈寿宏 《计算机工程与设计》 北大核心 2017年第3期837-841,共5页
为完成对日益复杂的目标器件的测试工作,在研究边界扫描测试技术和IEEE1149.7标准的基础上,对符合IEEE1149.7标准的边界扫描测试控制器进行设计构建,重点介绍控制器中命令控制功能模块的设计实现。基于Quartus II应用平台进行设计,通过M... 为完成对日益复杂的目标器件的测试工作,在研究边界扫描测试技术和IEEE1149.7标准的基础上,对符合IEEE1149.7标准的边界扫描测试控制器进行设计构建,重点介绍控制器中命令控制功能模块的设计实现。基于Quartus II应用平台进行设计,通过Modelsim完成仿真验证,仿真结果表明,该命令控制模块能够正确产生符合TAP.7控制器命令标准的测试信号。 展开更多
关键词 控制器命令 IEEE1149.7标准 命令控制模块 控制级别 零位扫描
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两线星型扫描测试控制器设计 被引量:3
11
作者 建珍珍 颜学龙 《大众科技》 2012年第3期63-66,共4页
针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型(Star-2)扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处于理论研究阶段,产生相关的测试信号对今后构建测试系统具有重要的意义。以该标准为依据,利用Quartus I... 针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型(Star-2)扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处于理论研究阶段,产生相关的测试信号对今后构建测试系统具有重要的意义。以该标准为依据,利用Quartus II开发平台设计了基于FPGA的两线星型扫描测试控制器,并通过Module-Sim6.4a进行了仿真验证。结果表明该控制器实现了标准协议和高级协议的相互转换,能够产生符合IEEE 1149.7标准的Star-2扫描测试信号以及MScan扫描格式。 展开更多
关键词 IEEE1149.7标准 星型扫描拓扑 高级协议 MSCAN
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基于51单片机的电子时钟设计 被引量:6
12
作者 许珂乐 《现代电子技术》 北大核心 2017年第13期175-177,共3页
利用Atmel公司的IEEE1149.7仿真器对电子时钟进行开发,用实验板实现时间、日期、定时及其设定功能,详细对软件编程流程以及调试进行说明,并对计时误差进行分析及校正,提出了定时音与显示相冲突问题及解决方案。由于单片机具有低成本、... 利用Atmel公司的IEEE1149.7仿真器对电子时钟进行开发,用实验板实现时间、日期、定时及其设定功能,详细对软件编程流程以及调试进行说明,并对计时误差进行分析及校正,提出了定时音与显示相冲突问题及解决方案。由于单片机具有低成本、高性能等特点,在自动控制产品中得到了广泛的应用。整个电路结构简单,可靠性能高,易于推广和移植,具有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 单片机 IEEE1149.7仿真器 电子时钟 C语言
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An IEEE 1149.x Embedded Test Coprocessor 被引量:1
13
作者 Ukbagiorgis Iyasu Gebremeskel José Manuel Martins Ferreira 《Circuits and Systems》 2014年第7期170-180,共11页
This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The c... This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The coprocessor uses a fast simplex link (FSL) channel to interface a 32-bit MicroBlaze CPU, but it can work with any microprocessor core that accepts this simple FIFO-based interface method. The implementation cost (logic resource usage for a Xilinx Spartan-6 FPGA) and the performance data (operating frequency) are presented for a test command set comprising two parts: 1) the full IEEE 1149.1 structural test operations;2) a subset of IEEE 1149.7 operations selected to illustrate the implementation of advanced scan formats. 展开更多
关键词 BUILT-IN Test Boundary-Scan EMBEDDED COPROCESSORS MICROBLAZE IEEE 1149.1 IEEE 1149.7
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在SoC调试中重塑JTAG的作用 被引量:7
14
作者 Stephen Lau 《电子设计应用》 2009年第2期26-26,28-31,共5页
本文将详尽介绍即将推出的IEEE 1149.7标准的相关情况,帮助设计人员在设计方案中实现JTAG调试接口。
关键词 JTAG SOC IEEE 1149.7
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