支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究

为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。

基于IEEE1149.7标准的TAP.7适配器研究

随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临的新问题;针对该问题,文章提出了一种基于IEEE 1149.7标准的适配接口TAP.7适配器;结合TAP.7接口结构和新增功能,对TAP.7适配器的设计原理和设计方案进行了详细的介绍;最后对该适配器的TAP.7命令功能和星型扫描技术进行了仿真验证,通过验证结果分析表明:TAP.7适配器实现了TAP.7功能,具备了接口适配的作用,达到了预期的设计目标。

IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究

针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号.

IEEE1149.7 T5层数据传输功能的研究

IEEE1149.7标准提出了两线传输机制,并且提供了T0到T5层的芯片内核的设计层次,增加了对芯片内核的测试与调试功能。在深入研究IEEE1149.7的基础上,建立了T5层数据传输功能的模型,利用Quartus II开发平台通过Verilog硬件描述语言设计了IEEE1149.7标准中T5层的数据传输功能,并编写Testbech在Modelsim仿真软件中进行仿真验证。结果表明,设计的IP核符合IEEE1149.7中T5层数据传输功能规范。

基于FPGA的CJTAG控制器命令控制模块设计

为完成对日益复杂的目标器件的测试工作,在研究边界扫描测试技术和IEEE1149.7标准的基础上,对符合IEEE1149.7标准的边界扫描测试控制器进行设计构建,重点介绍控制器中命令控制功能模块的设计实现。基于Quartus II应用平台进行设计,通过Modelsim完成仿真验证,仿真结果表明,该命令控制模块能够正确产生符合TAP.7控制器命令标准的测试信号。

两线星型扫描测试控制器设计

针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型(Star-2)扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处于理论研究阶段,产生相关的测试信号对今后构建测试系统具有重要的意义。以该标准为依据,利用Quartus II开发平台设计了基于FPGA的两线星型扫描测试控制器,并通过Module-Sim6.4a进行了仿真验证。结果表明该控制器实现了标准协议和高级协议的相互转换,能够产生符合IEEE 1149.7标准的Star-2扫描测试信号以及MScan扫描格式。