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评价1GDRAM的技术及设备
1
作者
翁寿松
《电子产品可靠性与环境试验》
1998年第3期46-48,共3页
本文介绍了1GDRAM的电性能,论述了评价1GDRAM的技术及设备。
关键词
1gdram
评价
半导体产业
圆片制造
下载PDF
职称材料
256M/1G DRAM生产线的检测设备
2
作者
翁寿松
《电子工业专用设备》
1998年第1期20-25,共6页
介绍256M/1GDRAM生产线的检测设备,包括裸圆片、带图形圆片、膜厚及特性、条宽/线宽、掩模版、后道工序、环境检测设备、成品测试和环境试验设备。
关键词
256M/
1gdram
检测
设备
IC
生产线
下载PDF
职称材料
题名
评价1GDRAM的技术及设备
1
作者
翁寿松
机构
中国华晶电子集团公司无锡市无线电元件四厂
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1998年第3期46-48,共3页
文摘
本文介绍了1GDRAM的电性能,论述了评价1GDRAM的技术及设备。
关键词
1gdram
评价
半导体产业
圆片制造
分类号
TN30 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
256M/1G DRAM生产线的检测设备
2
作者
翁寿松
机构
中国华晶电子集团公司无锡市无线电元件四厂
出处
《电子工业专用设备》
1998年第1期20-25,共6页
文摘
介绍256M/1GDRAM生产线的检测设备,包括裸圆片、带图形圆片、膜厚及特性、条宽/线宽、掩模版、后道工序、环境检测设备、成品测试和环境试验设备。
关键词
256M/
1gdram
检测
设备
IC
生产线
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
评价1GDRAM的技术及设备
翁寿松
《电子产品可靠性与环境试验》
1998
0
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职称材料
2
256M/1G DRAM生产线的检测设备
翁寿松
《电子工业专用设备》
1998
0
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