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2μmp阱CMOS工艺中提高源-漏穿通电压的方法
被引量:
1
1
作者
蒋志
王勇
赵海军
《微电子学》
CAS
CSCD
1994年第3期31-33,共3页
采用防穿通注入的工艺方案,对提高2μmpMOS管的源漏穿通电压应选用的工艺条件做了实验研究。给出了加防穿通注入工艺的实验结果及其对V_(Tp)的影响。
关键词
CMOS
工艺
源漏穿通电压
2μmp阱
下载PDF
职称材料
题名
2μmp阱CMOS工艺中提高源-漏穿通电压的方法
被引量:
1
1
作者
蒋志
王勇
赵海军
机构
清华大学微电子所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
1994年第3期31-33,共3页
文摘
采用防穿通注入的工艺方案,对提高2μmpMOS管的源漏穿通电压应选用的工艺条件做了实验研究。给出了加防穿通注入工艺的实验结果及其对V_(Tp)的影响。
关键词
CMOS
工艺
源漏穿通电压
2μmp阱
Keywords
m process,CMOS process,S-D punch-through
分类号
TN386.105 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
2μmp阱CMOS工艺中提高源-漏穿通电压的方法
蒋志
王勇
赵海军
《微电子学》
CAS
CSCD
1994
1
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