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2μmp阱CMOS工艺中提高源-漏穿通电压的方法 被引量:1
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作者 蒋志 王勇 赵海军 《微电子学》 CAS CSCD 1994年第3期31-33,共3页
采用防穿通注入的工艺方案,对提高2μmpMOS管的源漏穿通电压应选用的工艺条件做了实验研究。给出了加防穿通注入工艺的实验结果及其对V_(Tp)的影响。
关键词 CMOS 工艺 源漏穿通电压 2μmp阱
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