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基于半导体探测法^(220)Rn测量仪的准确刻度
被引量:
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作者
吴喜军
李志强
+2 位作者
单健
周青芝
黄成
《南华大学学报(自然科学版)》
2015年第3期6-8,共3页
采用多道脉冲幅度分析器测定216Po 6.78 Me V能谱峰对6.00 Me V计数区的峰重叠因子μ为0.0897.将流气式固体220Rn源作为标准源测定220Rn测量仪测220Rn刻度系数为9.4004.提高了半导体探测法型220Rn测量仪刻度的准确性与测220Rn准确度.
关键词
连续
测量
仪
峰重叠因子
220rn测量仪
刻度
下载PDF
职称材料
题名
基于半导体探测法^(220)Rn测量仪的准确刻度
被引量:
1
1
作者
吴喜军
李志强
单健
周青芝
黄成
机构
南华大学数理学院
南华大学核科学技术学院
出处
《南华大学学报(自然科学版)》
2015年第3期6-8,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(11375083
11475082)
湖南省衡阳市科技计划基金资助项目(2013KJ30)
文摘
采用多道脉冲幅度分析器测定216Po 6.78 Me V能谱峰对6.00 Me V计数区的峰重叠因子μ为0.0897.将流气式固体220Rn源作为标准源测定220Rn测量仪测220Rn刻度系数为9.4004.提高了半导体探测法型220Rn测量仪刻度的准确性与测220Rn准确度.
关键词
连续
测量
仪
峰重叠因子
220rn测量仪
刻度
Keywords
continuous measurement instrument
peaks overlap factor
220
rn
measurement instrument
calibration
分类号
TL72 [核科学技术—辐射防护及环境保护]
TL84 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于半导体探测法^(220)Rn测量仪的准确刻度
吴喜军
李志强
单健
周青芝
黄成
《南华大学学报(自然科学版)》
2015
1
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职称材料
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参考文献
引证文献
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