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基于半导体探测法^(220)Rn测量仪的准确刻度 被引量：1
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作者 吴喜军 李志强 +2 位作者 单健 周青芝 黄成 《南华大学学报（自然科学版）》 2015年第3期6-8,共3页
采用多道脉冲幅度分析器测定216Po 6.78 Me V能谱峰对6.00 Me V计数区的峰重叠因子μ为0.0897.将流气式固体220Rn源作为标准源测定220Rn测量仪测220Rn刻度系数为9.4004.提高了半导体探测法型220Rn测量仪刻度的准确性与测220Rn准确度.
关键词 连续测量仪 峰重叠因子 220rn测量仪 刻度
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