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美国宇航级晶体管2N2219 AL实物质量水平剖析
被引量:
4
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作者
徐立生
谭宗新
于学东
《电子产品可靠性与环境试验》
1999年第1期27-29,共3页
本文报导了对美国宇航级晶体管2N2219AL进行一系列试验和检测的结果。
关键词
宇航级晶体管
质量水平
2n2219al
晶体管
可靠性
下载PDF
职称材料
题名
美国宇航级晶体管2N2219 AL实物质量水平剖析
被引量:
4
1
作者
徐立生
谭宗新
于学东
机构
电子工业部第十三研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1999年第1期27-29,共3页
文摘
本文报导了对美国宇航级晶体管2N2219AL进行一系列试验和检测的结果。
关键词
宇航级晶体管
质量水平
2n2219al
晶体管
可靠性
分类号
TN320.6 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
发文年
被引量
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1
美国宇航级晶体管2N2219 AL实物质量水平剖析
徐立生
谭宗新
于学东
《电子产品可靠性与环境试验》
1999
4
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