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美国宇航级晶体管2N2219 AL实物质量水平剖析 被引量:4
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作者 徐立生 谭宗新 于学东 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年第1期27-29,共3页
本文报导了对美国宇航级晶体管2N2219AL进行一系列试验和检测的结果。
关键词 宇航级晶体管 质量水平 2n2219al 晶体管 可靠性
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