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一例2p15-p16.1微缺失综合征导致多发畸形的临床表型和遗传学分析 被引量:6
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作者 吴东 王红丹 +6 位作者 张卉 侯巧芳 秦利涛 王涛 肖海 廖世秀 王应太 《中华医学遗传学杂志》 CAS CSCD 北大核心 2015年第6期823-826,共4页
目的明确1例智力低下伴多发畸形患儿染色体拷贝数变异的性质及来源,分析其染色体变异与表型的相关性。方法常规G显带分析患儿及父母外周血染色体核型,然后应用比较基因组杂交芯片(array comparative genomic hybridization,aCGH)... 目的明确1例智力低下伴多发畸形患儿染色体拷贝数变异的性质及来源,分析其染色体变异与表型的相关性。方法常规G显带分析患儿及父母外周血染色体核型,然后应用比较基因组杂交芯片(array comparative genomic hybridization,aCGH)技术对患儿及其父母全基因组拷贝数目进行检测,并进一步应用微卫星基因座(short tandem repeat,STR)对aCGH结果进行验证同时判断缺失区域的父母来源。结果患儿临床表现为智力低下、小头畸形、语言发育迟缓、面部发育异常等。患儿常规染色体核型为46,XY,父母核型正常。aCGH结果显示患儿2p15-p16.1区域存在1.28Mb的缺失,父母未检测到该区域缺失,微卫星基因座检测证实患儿缺失了母方来源片段。结论该患儿2p15-p16.1区域缺失是新发突变,可能为其发病原因;该缺失综合征的缺失区域和临床表型具有个体差异,ehr2:60.5-61.5Mb区域可能是该综合征的关键区域。 展开更多
关键词 2p15-p16.1微缺失综合征 智力低下 比较基因组杂交芯片
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