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基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试 被引量:1
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作者 唐彩彬 《电子与封装》 2022年第3期30-34,共5页
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试... 介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。 展开更多
关键词 ATE Chroma 3380p USB PD 晶圆测试
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