期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
被引量:
1
1
作者
唐彩彬
《电子与封装》
2022年第3期30-34,共5页
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试...
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。
展开更多
关键词
ATE
Chroma
3380p
USB
PD
晶圆测试
下载PDF
职称材料
题名
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
被引量:
1
1
作者
唐彩彬
机构
中科芯集成电路有限公司
出处
《电子与封装》
2022年第3期30-34,共5页
文摘
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。
关键词
ATE
Chroma
3380p
USB
PD
晶圆测试
Keywords
ATE
Chroma
3380p
USB PD
chip probe test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
唐彩彬
《电子与封装》
2022
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部