电子器件老化测试中的新技术应用

阐述电子元器件老化测试是提高产品可靠性和确保产品质量的关键技术。介绍当前老化测试的新技术,包括加速寿命试验(ALT)、重复性测试(RT)和3D打印夹具。ALT通过加速产品老化过程来评估产品可靠性和寿命,RT测试评估产品重复使用期间的性能,3D打印能够快速灵活定制夹具以进行精确测试。