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基于FIB的三维表征分析技术及应用进展
被引量:
5
1
作者
贾志宏
王雪丽
+2 位作者
邢远
刘莹莹
刘庆
《中国材料进展》
CAS
CSCD
2013年第12期735-741,751,共8页
聚焦离子束技术凭借其独特的微纳尺度制造能力和优势,已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之。随着新型FIB硬件设备的多功能化,FIB三维表征技术的不断完善,使FIB三维表征技术在材料研究领域的应用更加广泛和深入。与其他三维表征技术相...
聚焦离子束技术凭借其独特的微纳尺度制造能力和优势,已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之。随着新型FIB硬件设备的多功能化,FIB三维表征技术的不断完善,使FIB三维表征技术在材料研究领域的应用更加广泛和深入。与其他三维表征技术相比,FIB三维表征技术具有控制精度高、分析微观区域大、分辨率高等特点。FIB技术与SIMS、SEM、EDX、EBSD等系统的结合,可对不同材料进行三维空间状态下的形貌、成分、取向等信息的分析。文章简要概述了3DSIMS、3D-Imaging/EDX、3D-EBSD 4种基于FIB的三维表征技术,具体包括FIB三维表征技术的成像-切割的原理及过程。综述了几种不同表征手段在各种材料中的应用和发展。后指出FIB三维表征技术在应用中的些不足并对该技术发展方向进行了展望。
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关键词
FIB三维表征技术
3d-sims
3
D—Imaging
3
D—EDX
3
D—EBSD
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职称材料
题名
基于FIB的三维表征分析技术及应用进展
被引量:
5
1
作者
贾志宏
王雪丽
邢远
刘莹莹
刘庆
机构
重庆大学材料科学与工程学院
出处
《中国材料进展》
CAS
CSCD
2013年第12期735-741,751,共8页
基金
国家自然科学基金资助项目(51271209)
中央高校基本科研业务费资助项目(CDJZR12130048
CD-JZR12248801)
文摘
聚焦离子束技术凭借其独特的微纳尺度制造能力和优势,已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之。随着新型FIB硬件设备的多功能化,FIB三维表征技术的不断完善,使FIB三维表征技术在材料研究领域的应用更加广泛和深入。与其他三维表征技术相比,FIB三维表征技术具有控制精度高、分析微观区域大、分辨率高等特点。FIB技术与SIMS、SEM、EDX、EBSD等系统的结合,可对不同材料进行三维空间状态下的形貌、成分、取向等信息的分析。文章简要概述了3DSIMS、3D-Imaging/EDX、3D-EBSD 4种基于FIB的三维表征技术,具体包括FIB三维表征技术的成像-切割的原理及过程。综述了几种不同表征手段在各种材料中的应用和发展。后指出FIB三维表征技术在应用中的些不足并对该技术发展方向进行了展望。
关键词
FIB三维表征技术
3d-sims
3
D—Imaging
3
D—EDX
3
D—EBSD
Keywords
FIB
3
D characterization technique
3
d-sims
3
D-Imaging
3
D-EDX
3
D-EBSD
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于FIB的三维表征分析技术及应用进展
贾志宏
王雪丽
邢远
刘莹莹
刘庆
《中国材料进展》
CAS
CSCD
2013
5
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职称材料
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