用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试

文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。

4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能

4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—VN量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C—V测量结果。

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统升级

2008年7月29日发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能

新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Kejthley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能

2008年7月29日，美国吉时利（Keithley）仪器公司发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能

（美国俄亥俄州克里夫兰，200B年7月29日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前针对4200～SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEi支持更高功率半导体器件的测试。这样。4200—SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。KTEI V7．1的此次升级融合了多种新特征和新功能．扩宽了4200-CVU（电容-电压单元）的功能，包括对高达200VDC（即400V差分电压）和300mA更高功率半导体器件的特征分析提供了软件支持。

4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案

吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。

吉时利推出4200-SCS型半导体以及KTEI5.0软件

全新的4200-SCS/KTE15.0系统是理想的多用途机器,它具有超强的灵敏度、排序性能以及内嵌的可以进行简单数据管理和分析需要的视窗环境,它可以轻而易举的进行半导体器件特性分析和可靠性测试。

吉时利集成最新C—V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V／I—V／脉冲测试

吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。在4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。

吉时利推出新脉冲式半导体器件特性测量方案

Model 4200-SCS PIV子系统适合解决高介电High-k介质的集成电路和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性的问题的工具。

吉时利集成最新C-V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试

2007年10月22日吉时利宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。

吉时利推出脉冲式半导体器件特性测量方案

吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布在4200型半导体特性分析系统中新增脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲Ⅰ—Ⅴ）子系统更便于进行高介电（High—k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究，测量更加准确，产品投入市场更快。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案，而且使用非常方便。

吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU

吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容，具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现专业级的C-v测量。由于4200-CVU附带完整的测试库，因此极大提高了测量效率。如果与吉时利4200-LS-LC-12结合使用，将实现更高测量效率。

金属氧化物半导体系统

氧化物半导体是具有半导体特性的一类氧化物。氧化物半导体的电学性质与环境气氛有关。导电率随氧化气氛而增加称为氧化型半导体，是p型半导体；电导率随还原气氛而增加称为还原型半导体，是n型半导体；导电类型随气氛中氧分压的大小而成p型或n型半导体称为两性半导体。

4200-CVU：C-V测量功能模块

吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C—V测量结果。

吉时利发布用于纳米技术研究的免费测量软件

吉时利仪器公司目前开发了一套纳米技术工具包，这是一套专门设计用于纳米技术研究常见测试的测量软件工具，可以帮助纳米技术研究人员进行与纳米技术相关的精确而且通常十分复杂的电气测量。该纳米技术工具包及其软件程序为免费供应，且可以兼容吉时利的4200-SCS型半导体特性系统。

吉时利公司发布新产品

近日，吉时利公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—V测量功能——4200-CVU，同时发布业界领先的MIMO射频测试解决方案。吉时利公司介绍，4200—CVU改写了测试历史，具有开发时间短，学习过程容易，测试能力快速，测量效率高，