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5X密度磁光盘模压特性检测的定时逻辑控制 被引量：1
1
作者 龙占超 严国萍 +1 位作者 孙中葛 蒋仲雄 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 1999年第8期72-74,共3页
讨论 ５ Ｘ 密度磁光盘模压特性检测系统中的关键技术之一——定时与逻辑控制．该定时与逻辑控制电路通过模压预格式信号中的自同步位时钟与 Ｓ Ｍ 标志指示信号对模压预格式信号中的各个区段 （ Ｓ Ｍ ， Ｖ Ｆ Ｏ， Ａ Ｍ， Ｉ Ｄ， ... 讨论 ５ Ｘ 密度磁光盘模压特性检测系统中的关键技术之一——定时与逻辑控制．该定时与逻辑控制电路通过模压预格式信号中的自同步位时钟与 Ｓ Ｍ 标志指示信号对模压预格式信号中的各个区段 （ Ｓ Ｍ ， Ｖ Ｆ Ｏ， Ａ Ｍ， Ｉ Ｄ， Ｐ Ａ） 在时域上定位，实现对具有高速非重复性的模压预格式信息的实时采集，从而满足检测系统对包括磁光盘扇区标头信号、跨道信号和推挽信号的模压预格式信息的测试要求． 展开更多
关键词 磁光盘 逻辑控制 模压特性 定时控制 5x密度
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5X密度磁光盘光学特性测试系统设计
2
作者 皮开阳 陈海清 梁柏云 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 2000年第4期87-89,共3页
阐述了 5X密度磁光盘光学特性测试系统的结构原理与系统设计 ,并对其硬件电路系统和软件结构的设计作了详细的论述 .
关键词 光学特性 测试系统 数据采集 5x密度磁光盘
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