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65纳米系统级LSI工艺技术获突破
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《电子质量》 2003年第2期93-94,共2页
关键词 大规模集成电路 lsi 65纳米系统级lsi工艺技术 东芝 索尼
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65纳米系统级LSI工艺技术获突破
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作者 盛柏桢 《半导体信息》 2003年第2期33-34,共2页
日前,日本东芝、索尼公司在东京宣布,两家公司将继2001年共同发表90纳米级大规模集成电路(LSI)技术之后,再度联手推出有关65纳米级 LSI 技术的论文。此举表明,两家公司率先完成了 SoC 用65纳米级 DRAM 混载 CMOS 技术的开发,从2001年开... 日前,日本东芝、索尼公司在东京宣布,两家公司将继2001年共同发表90纳米级大规模集成电路(LSI)技术之后,再度联手推出有关65纳米级 LSI 技术的论文。此举表明,两家公司率先完成了 SoC 用65纳米级 DRAM 混载 CMOS 技术的开发,从2001年开始的两家公司的合作再次获得了成功。据称,由东芝和索尼两家公司共同开发的"65纳米级系统 LSI 技术"集世界上转换速度最快的高性能器件、世界上体积最小的混载 DRAM 元件和世界上体积最小的混载SRAM 元件这3项要素于一身,从而率先确立了在一块芯片上同时容纳高性能微处理器和大容量存储器的技术。此次东芝在65纳米芯片处理技术方面的突出成绩,将会大大提高 LSI 的使用效率。 展开更多
关键词 纳米系统 lsi 芯片处理 大容量存储器 高性能微处理器 工艺技术 转换速度 高性能器件 集成芯片 技术设计
原文传递
纳米系统级LSI开发技术获突破
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《机电工程技术》 2003年第1期5-5,共1页
关键词 纳米系统 lsi 工艺技术 大规模集成电路
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德州仪器计划于2005年推出采用创新型65纳米半导体工艺技术的样片
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《当代通信》 2004年第6期63-63,共1页
关键词 德州仪器公司 2005年 65纳米半导体工艺技术 晶体管 发展规划 片上系统
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