基于Geant4的68Ge校正源活度均匀性检测装置模拟研究

68Ge是一种被广泛用于正电子发射断层成像(PET)矫正的放射源,根据其制备工艺,通常是将环氧树脂与68Ge溶液混合均匀浇注到外壳中固化制成校正源,对校正源活度的均匀性要求要小于±5%。为了检测68Ge校正源的均匀性,本文基于Geant4建立了活度均匀性分析检测装置的仿真模型,模拟了屏蔽体采用不同材料时的屏蔽效果,给出了屏蔽体厚度对射线通过率的影响;探究了在特定条件下探测器大小对于探测效率的影响;分析了不同探测距离条件下的探测时间。结果显示:当使用钨作为屏蔽体时,屏蔽效果最好,可用于内层校正源屏蔽,外层使用铅屏蔽周围环境天然辐射;改变探测器大小对探测效率影响显著,但随着探测器长度的增加探测效率趋于饱和,源探距为1 cm时综合性能最佳,可满足设计指标要求。