二次离子质谱分析技术及应用研究

二次离子质谱(SIMS)是离子质谱学的一个分支,也是表面分析的有利工具。该方法能检测出微小区域内的微量成分,绝对检出限10-13—10-19g、相对检出限ppm—ppb;具有能进行杂质深度剖析和各种元素在微区范围内同位素丰度比的测量。结合IMS-6f型二次离子质谱仪器,本文对SIMS仪器和技术应用进行了综述。

供电企业以终为始学习发展体系的构建

以唐山供电公司为例,研究供电企业以终为始学习发展体系的构建.目前,唐山供电公司培训工作存在胜任力模型适用性差、员工发展路径不明确的问题,构建学习发展体系,是提高人才培养效率的必然途径与提升培训效果的必然要求,基于6F模型的学习发展体系应强调全面收获、全面体验、全面实施、全面跟进、全面支持与全面衡量6大内容,并从组织机构、胜任素质模型、培训模式以及柯氏四级评估等方面为其实施提供要素与技术支持.