基于V93000 ATE性能测试方法的实现

针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型(内部模块性能测试和接口数据流性能测试)。基于这两种测试类型,以“Date Rate”性能测试为例,分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现,主要通过“Digital Capture”捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digita-l to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP核采样得到的数字代码以及通过V93000采样DAC IP核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP核测试方案非常有效.

基于Verigy93000的高速数字集成电路测试

主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法,依据这些处理方法,阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试。

Verigy 93000短期校准在变化率测试中的应用

介绍了集成电路电参数变化率对短期校准的需求和Verigy 93000集成电路测试系统的校准方式,研究实现了Verigy 93000集成电路测试系统的短期校准装置,该装置可应用于直流参数变化率测试。

Verigy 93000中直流参数的并行测试方法

本文阐述了一种在Verigy 93000上进行直流参数测试的测试方法,并与传统方法进行了比较分析,结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源,使测试时间有效降低。

基于V93000测试系统的反熔丝FPGA向量压缩方法研究

V93000测试系统是一个集成电路测试设备,用来进行IC测试。对于复杂的集成电路,其测试向量数据庞大,由于V93000测试系统自身向量空间的限制,因此压缩测试向量具有十分重要的意义。该文主要从测试向量生成角度出发,提出一种自编向量重复脚本压缩与V93000的4X配置和Multiport方式相结合的办法来进行测试向量的压缩。该文以反熔丝FPGA测试为例子,通过此方法将测试向量压缩了20倍。

VCD仿真文件到93000 ATE测试文件转换分析

VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。

基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究

随着计算机应用领域的不断发展,处理的信息量越来越多,对存储器的工作速度和容量要求也越来越高,异步双端口静态存储器在高速多处理系统中广泛应用。因此,研究异步双端口静态存储器测试具有十分重要意义。该文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18异步双端口静态存储器器件为例,介绍了异步双端口静态存储器的基本工作原理,阐述了基于V93000测试系统的MTP软件生成测试向量的方法,从而更高效、简便地对异步双端口静态存储器进行评价。

爱德万测试AVI64扩充V93000平台对智能器件的测试能力

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试自1972年跨足半导体测试领域,目前已成为全球电子产业晶圆测试与分类解决方案领导者。爱德万测试一直以创新的实力领导业界发展,并坚持品质与可靠性至上的原则。为更好的服务全球客户,爱德万测试分别在日本、美国、德国设置研发中心,同时,在欧洲、新加坡、韩国、台湾地区及中国大陆均设有分公司,爱德万测试也非常看好并重视中国大陆半导体市场，

一种基于V93000的高速缓冲器测试方法

普通的缓冲器芯片频率大多只有1~20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展。这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求。该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法。

基于V93000 ATE的随机数采集检测方法

随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测。本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程。

V93000自动化测试技术研究

随着集成电路芯片的快速发展,相应的测试技术也在不断地提高,随之而来测试机功能也越来越高端复杂。V93000是一种高端的ATE测试机,近年来产量需求不断增加,但是目前常规的人工测试已无法完全满足需求,因此需一种新型的测试方式来扩大产量。提出了一种V93000自动化测试的方式,首先,对该自动测试方法的硬件部分包括插座选型、PCB板设计和KIT的制作等进行了介绍;然后,阐述了测试程序开发的内容;最后,展示了自动化测试的具体实现过程,对于提高V93000测试效率和准确性具有重要的意义。

Agilent 93000 SoC系列采用的液冷技术对测试及测试成本的好处

半导体芯片在运行过程中散发热量。芯片的工作温度影响着其内部电路性能,更重要的是,其影响着芯片的可靠性。对半导体测试,这是一个重要问题,因为如果测试系统电子器件的温度不能稳定在目标水平,那么产出将下降,可重复性将会劣化。如果目标温度不能保持在相对较低的水平,那么系统可靠性将明显降低。自动测试系统(ATE)采用基于空气或液体介质的冷却技术。液冷系统比风冷系统的温度稳定性要高。液冷系统的热传导效率较高,因此可以降低ATE的工作温度。

安捷伦推出可软件配置的Pin Scale 800 数字通道卡,大限度地提高资产利用率、降低测试成本——针对Agilent 93000 SOC系列测试系统的灵活的并行测试解决方案提供了业内强大的功能扩展性,支持最多2048个针脚及每针脚800Mb/s的速率

为Agilent 93000SOC系列测试系统推出Pin Sak 800数字通道卡．提供了强大的功能扩展性．其由专低速率为200Mb／s，并可以提高到800Mb/s．既满足低成本低性能需求，又可满足高性能需求。安捷伦还提供了业内第一个性能程序库(Perfonmance Library)，采用逐针脚许可，支持不同的速率和内存性能。

安捷伦93000 SOC测试系统新增多时钟畴测试能力

安捷伦科技日前宣布，安捷伦93000SOC测试系统新增多时钟畴的升级配备，据称新的解决方案使计算机芯片、绘图芯片组、图形控制器及网络处理器等拥有多种不同界面，采用多种不同工作时脉的组件，能够一次测试完毕。例如同时采用PCI Express及Hyper

中国西部地区首台安捷伦93000 SOC半导体高端测试设备落户西安

安捷伦科技日前宣布，两安集成电路系统工程技术研究中心（以下简称“西安IC工程中心”）购买了一台Aglent93000SOC系列测试系统，用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备，标志着西安IC工程中心已经具有高性能SOC的测试能力，从而成为西部地区领先的SOC测试机构，可为西部地区的高科技企业提供设计检验服务，并为测试工程师提供重要的培训服务。

提升高端产能“硬实力”,广东利扬大规模采购爱德万V93000测试设备

日前,在于上海举办的SEMICON China 2019期间,广东利扬芯片测试股份有限公司(利扬芯片)与爱德万测试(中国)管理有限公司(爱德万)正式签署了大规模设备采购意向,利扬芯片将向爱德万购买大批量的V93000测试设备。