期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
基于80C196KB的高速A/D参数测试技术
1
作者 陈瑞 杨建平 李贵山 《现代电子技术》 2002年第2期47-49,共3页
探讨了一种以 80 C196 KB为核心并利用直方图测试理论实现高速 A/ D转换器线性度参数的测试技术 ,为高速 A/
关键词 80C196KB a/d参数测试技术 线性度 直方图 模数转换器
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部