基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究

运算放大器作为一种通用器件,其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题,需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例,对运算放大器的测试理论及技术进行了分析,并提出了一种新的测试实现方式。