用失效捕捉法测试AC参数

本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取"通过/失效"结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。

一款三相可控硅控制器芯片的测试

介绍了一款自主研发的基于Chartered 0.35μm CMOS工艺的用于三相交流调压和可控整流的可控硅控制器芯片。基于Chroma公司3360D测试台(ATE)对封装后芯片进行了测试,并详细阐述了DC、AC、DFT、功能测试等的测试方法,芯片测试良率达到94.7%。最后,通过现场板级验证,进一步验证了芯片工作的有效性。

测试片法在食品菌落总数检测中的应用研究

目的探究菌落总数测试片法检测食品中菌落总数的可行性。方法用菌落总数测试片法和国家标准方法同时对制备的菌悬液、自然污染食品样品和人工污染食品样品的菌落总数进行检测,采用t-检验分析2种方法检测结果的差异,采用Pearson相关分析确定2种检测方法之间的相关性。结果菌悬液和自然污染食品样品菌落总数测试片法的变异系数为0.16%~3.76%,人工污染食品样品的变异系数为0.78%~8.61%;菌落总数测试片与国家标准方法在不同类型食品样品检测结果之间没有显著性差异(P<0.05),2种方法的检测结果呈正相关(r2>0.976,P<0.001)。结论菌落总数测试片法的检测效果与国家标准方法相当,可作为替代方法,用于检测食品中的菌落总数。

新型交直流电流表设计

系统以AT89C51系列单片机为控制单元,介绍一种以ACS712霍尔电流测量芯片为测量工具的新型电流测试方式,系统电流测量范围为0～5 A,且具有结构新颖、电路简单、测试精确、生产成本低廉和体积小巧等优点,特别适合应用于工业、商业和通信系统等各个领域的高精度交流或直流电流测试.

食品中菌落总数检测方法的比较研究

本文比较了大肠埃希氏菌、金黄色葡萄球菌和蜡样芽孢杆菌3种标准菌株分别在平板计数琼脂、3M菌落总数测试片和MicroFast■AC菌落总数测试片3种培养基中的菌落形态,并采用这3种方法对6类共60批次食品样品进行菌落总数测定。结果表明,3M菌落总数测试片在菌落辨识度上有明显优势,更适用于复杂基质样品的检测;3M菌落总数测试片和MicroFast■AC菌落总数测试片测得的结果与平板计数法测得的结果无显著差异,菌落总数测试片法操作简单,节省空间,但成本较高,食品检测机构和相关企业可根据实际工作情况选择检测方法。