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FOG Bonding 电阻降低方案及机理探究
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作者 韩鑫 王晓杰 +3 位作者 唐乌力吉白尔 谢建云 薛海林 闫亮 《中国科技纵横》 2024年第5期113-115,共3页
近年来,中小尺寸产品客户端上线TP问题频发,其中有一类TP不良由FOG Bonding电阻异常偏大导致,但二次因未知。FOG堆叠结构为PNL+ACF(异方性导电胶)+FPC,但PNL、FPC为走线电阻,本身电阻较小(<1Ω),故不考虑此影响。基于此,重点研究FOG ... 近年来,中小尺寸产品客户端上线TP问题频发,其中有一类TP不良由FOG Bonding电阻异常偏大导致,但二次因未知。FOG堆叠结构为PNL+ACF(异方性导电胶)+FPC,但PNL、FPC为走线电阻,本身电阻较小(<1Ω),故不考虑此影响。基于此,重点研究FOG Bonding接触电阻。首先建立机理模型并进行探究,然后通过调整FOG Bonding参数,使ACF导电粒子的爆破状态和胶体的固化状态达到最优,最终降低电阻。 展开更多
关键词 FOG Bonding 接触电阻 acf爆破 acf固化
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