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中国商业银行脆弱性被动积累机制研究——基于经济发展的AD模式视角
被引量:
1
1
作者
李辉
《经济体制改革》
CSSCI
北大核心
2009年第6期129-132,共4页
许多关于中国商业银行脆弱性的研究表明,政府因素是影响银行脆弱性的重要变量。通过在既有的研究基础上引入经济发展的AD模式,从一个新的视角揭示出政府行为对中国商业银行脆弱性被动积累机制的影响。在经济发展的AD模式下,产业发展是核...
许多关于中国商业银行脆弱性的研究表明,政府因素是影响银行脆弱性的重要变量。通过在既有的研究基础上引入经济发展的AD模式,从一个新的视角揭示出政府行为对中国商业银行脆弱性被动积累机制的影响。在经济发展的AD模式下,产业发展是核心,国家的财政政策及货币政策都是以其为中心配合其发展的。产业结构的失衡在多方面加剧了商业银行脆弱的被动积累;并且产业结构失衡是经济发展失衡的重要影响因素,后者恶化了银行经营环境。基于此,我国应实施以补充性政策为主,重在改善银行外部经营环境的综合解决方案。
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关键词
银行脆弱性
被动积累机制
ad模式
补充性政策
原文传递
基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究
被引量:
2
2
作者
唐胜果
赵曼
+7 位作者
王明明
赵辉
钱小丽
李兰
李倩
赵凯旋
徐海丰
余丽霞
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第7期667-675,共9页
为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为...
为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8~2.1μm及6.4~8.0μm的面板作为噪声因子高低水平.按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130s,PI膜厚设置为75nm,TFT面摩擦强度设置为14mm,CF面摩擦强度设置为15.5mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63.该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04.特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4~8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level3的不良率从6.2%下降到0.2%.
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关键词
L0漏光
ad
S显示
模式
无边框液晶模组
田口法
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职称材料
题名
中国商业银行脆弱性被动积累机制研究——基于经济发展的AD模式视角
被引量:
1
1
作者
李辉
机构
四川大学经济学院
云南民族大学经济学院
出处
《经济体制改革》
CSSCI
北大核心
2009年第6期129-132,共4页
文摘
许多关于中国商业银行脆弱性的研究表明,政府因素是影响银行脆弱性的重要变量。通过在既有的研究基础上引入经济发展的AD模式,从一个新的视角揭示出政府行为对中国商业银行脆弱性被动积累机制的影响。在经济发展的AD模式下,产业发展是核心,国家的财政政策及货币政策都是以其为中心配合其发展的。产业结构的失衡在多方面加剧了商业银行脆弱的被动积累;并且产业结构失衡是经济发展失衡的重要影响因素,后者恶化了银行经营环境。基于此,我国应实施以补充性政策为主,重在改善银行外部经营环境的综合解决方案。
关键词
银行脆弱性
被动积累机制
ad模式
补充性政策
分类号
F830.31 [经济管理—金融学]
原文传递
题名
基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究
被引量:
2
2
作者
唐胜果
赵曼
王明明
赵辉
钱小丽
李兰
李倩
赵凯旋
徐海丰
余丽霞
机构
合肥鑫晟光电科技有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第7期667-675,共9页
文摘
为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8~2.1μm及6.4~8.0μm的面板作为噪声因子高低水平.按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130s,PI膜厚设置为75nm,TFT面摩擦强度设置为14mm,CF面摩擦强度设置为15.5mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63.该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04.特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4~8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level3的不良率从6.2%下降到0.2%.
关键词
L0漏光
ad
S显示
模式
无边框液晶模组
田口法
Keywords
L0 light leakage
ad
S
borderless module
Taguchi method
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
中国商业银行脆弱性被动积累机制研究——基于经济发展的AD模式视角
李辉
《经济体制改革》
CSSCI
北大核心
2009
1
原文传递
2
基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究
唐胜果
赵曼
王明明
赵辉
钱小丽
李兰
李倩
赵凯旋
徐海丰
余丽霞
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019
2
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