基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现

MCU内部集成的AD模块普遍应用于各类方案中,AD静态参数中的INL、DNL是评测AD性能的重要指标。使用专业仪器测试INL、DNL参数成本过高,因此用户对经济实惠且测试精准的专用测试台的需求日益显著。提供了一个低成本的AD静态参数自动测试系统设计方案,先阐述测试系统的基本实现原理,然后从硬件系统和软件系统两个部分详细介绍。实际使用证明,该测试系统适用于MCU AD模块的INL、DNL参数测试,工作稳定,测试精准,且成本低廉。