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FFT方法在ADC有效位测试中的应用探讨 被引量:11
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作者 李海涛 阮林波 +2 位作者 田耕 田晓霞 渠红光 《电测与仪表》 北大核心 2013年第10期14-17,83,共5页
介绍了ADC的性能参数和有效位(ENOB)的计算公式,在分析了ADC的性能参数测试方法后,给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨,对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种... 介绍了ADC的性能参数和有效位(ENOB)的计算公式,在分析了ADC的性能参数测试方法后,给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨,对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行ENOB测试,得到ADS5400在400 MSps采样率情况下的有效位ENOB=9.12 Bits(f in=1.123MHz)。 展开更多
关键词 adc性能参数 FFT 频谱泄露 相干采样 窗函数 有效位
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