ADP2381稳压芯片的过压保护ATE测试研究

本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE(Automatic Test Equipment)测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出了该芯片的主要测试指标。结合ATE测试的技术优势,基于软件测试技术,以ADP2381过压保护功能为实例,提出了一种基于ATE测试系统的整体设计方案。测试结果表明该ATE测试系统能很好地完成ADP2381芯片过压保护功能的完好性测试。