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Self-Adaptive Grinding for Blind Tip Reconstruction of AFM Diamond Probe 被引量:1
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作者 Linyan Xu Qishan Guo +1 位作者 Shuangbei Qian Sen Wu 《Nanotechnology and Precision Engineering》 EI CAS CSCD 2018年第2期150-155,共6页
Blind tip reconstruction(BTR) method is one of the favorable methods to estimate the atomic force microscopy(AFM) probe shape. The exact shape of the characterizer is not required for BTR, while the geometry of the sa... Blind tip reconstruction(BTR) method is one of the favorable methods to estimate the atomic force microscopy(AFM) probe shape. The exact shape of the characterizer is not required for BTR, while the geometry of the sample may affect the reconstruction significantly. A cone-shaped array sample was chosen as a characterizer to be evaluated. The target AFM probe to be reconstructed was a diamond triangular pyramid probe with two feature angles, namely front angle(FA) and back angle(BA). Four conical structures with different semi-angles were dilated by the pyramid probe. Simulation of scanning process demonstrates that it is easy to judge from the images of the isolated rotary structure, cone-shaped, the suitability of the sample to be a tip characterizer for a pyramid probe. The cone-shaped array sample was repeatedly scanned 50 times by the diamond probe using an AFM. The series of scanning images shrank gradually and more information of the probe was exhibited in the images, indicating that the characterizer has been more suitable for BTR. The feature angle FA of the characterizer increasingly reduces during the scanning process. A self-adaptive grinding between the probe and the characterizer contributes to BTR of the diamond pyramid probe. 展开更多
关键词 afm diamond probe BTR Cone characterizer SELF-ADAPTIVE GRINDING
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IMPROVED FABRICATION METHOD FOR CARBON NANOTUBE PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY(AFM) 被引量:1
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作者 XU Zongwei DONG Shen +1 位作者 GUO Liqiu ZHAO Qingliang 《Chinese Journal of Mechanical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第3期373-375,共3页
An improved arc discharge method is developed to fabricate carbon nanotube probe of atomic force microscopy (AFM) here. First, silicon probe and carbon nanotube are manipulated under an optical microscope by two hig... An improved arc discharge method is developed to fabricate carbon nanotube probe of atomic force microscopy (AFM) here. First, silicon probe and carbon nanotube are manipulated under an optical microscope by two high precision microtranslators. When silicon probe and carbon nanotube are very close, several tens voltage is applied between them. And carbon nanotube is divided and attached to the end of silicon probe, which mainly due to the arc welding function. Comparing with the arc discharge method before, the new method here needs no coat silicon probe with metal film in advance, which can greatly reduce the fabrication's difficulty. The fabricated carbon nanotube probe shows good property of higher aspect ratio and can more accurately reflect the true topography of silicon grating than silicon probe. Under the same image drive force, carbon nanotube probe had less indentation depth on soft triblock copolymer sample than silicon probe. This showed that carbon nanotube probe has lower spring constant and less damage to the scan sample than silicon probe. 展开更多
关键词 Carbon nanotube (CNT) Atomic force microscope afm probe Fabrication
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基于光束偏转法的原子力显微镜探针一致性装配系统研究
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作者 张宝良 梁文峰 +1 位作者 杨铁 于鹏 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期137-147,共11页
为解决原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)系统更换探针后光路调整复杂耗时、精度不足的问题,本文首次提出通过精密控制探针与探针夹装配位置来实现更换的探针相对AFM系统原光路位置的一致,进而实现免去AFM系统换针后调整光路... 为解决原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)系统更换探针后光路调整复杂耗时、精度不足的问题,本文首次提出通过精密控制探针与探针夹装配位置来实现更换的探针相对AFM系统原光路位置的一致,进而实现免去AFM系统换针后调整光路步骤。该系统的光路一致性组件采用光束偏转法对探针位置与偏转进行放大与监测,并使用高精度位移与角度调节平台进行探针相对于探针夹的方位调整。通过实物搭建对探针一致性效果进行了验证,并对紫外光(Ultraviolet,UV)胶水固化过程导致探针位置偏移影响;探针不同偏移量时产生的探测器噪音对AFM系统成像质量影响进行了系统分析。实验结果表明:经由该系统装配的探针平均位置精度接近1.1μm;并且在AFM系统中更换一致性探针仅需8 s。该系统实现了高精度且质量稳定的探针一致性装配,极大地简化了AFM系统重新校准光路的操作步骤,其与自动换针装置配合可有效提升工业计量型AFM的操作与测量性能。 展开更多
关键词 原子力显微镜 探针装配 光束偏转法 微米级位移调节
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定位生长法制备AFM单壁碳纳米管针尖 被引量:6
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作者 王锐 徐化明 +1 位作者 李聃 梁吉 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第4期565-568,共4页
采用粘性胶状物作为生长单壁碳纳米管(SWNTs)的催化剂前驱体,在原子力显微镜下驱动废旧的硅探针粘附该种胶状物,随后进行化学气相沉积(CVD),实现了SWNTs在硅探针末端的定位生长,成功地制备出了SWNT针尖.对SWNTs及SWNT针尖进行了表征,并... 采用粘性胶状物作为生长单壁碳纳米管(SWNTs)的催化剂前驱体,在原子力显微镜下驱动废旧的硅探针粘附该种胶状物,随后进行化学气相沉积(CVD),实现了SWNTs在硅探针末端的定位生长,成功地制备出了SWNT针尖.对SWNTs及SWNT针尖进行了表征,并对针尖的稳定成像条件进行了分析.结果表明,针尖一般由5-10nm的SWNT管束构成,伸出长度仅为几百纳米,受热振动影响较小,无需后处理即可稳定地成像,成像分辨率与新的硅探针相当. 展开更多
关键词 单壁碳纳米管 原子力显微镜 化学气相沉积 探针
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采用AFM法表征芳纶短切纤维和沉析纤维表面黏附力 被引量:1
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作者 孙召霞 张素风 +1 位作者 王群 孙杰 《中国造纸》 CAS 北大核心 2013年第9期31-34,共4页
采用原子力显微镜(AFM)探针修饰技术,用芳纶沉析纤维薄膜对探针进行修饰,在水中测定了芳纶短切纤维和沉析纤维的表面黏附力,探究了不同pH值对芳纶短切纤维和沉析纤维表面黏附力的影响。实验结果表明,芳纶沉析纤维薄膜修饰的探针与芳纶... 采用原子力显微镜(AFM)探针修饰技术,用芳纶沉析纤维薄膜对探针进行修饰,在水中测定了芳纶短切纤维和沉析纤维的表面黏附力,探究了不同pH值对芳纶短切纤维和沉析纤维表面黏附力的影响。实验结果表明,芳纶沉析纤维薄膜修饰的探针与芳纶短切纤维和沉析纤维之间的黏附力分别为1.71 nN和9.20 nN,沉析纤维分子间黏附作用力大于其与芳纶短切纤维间的黏附力,认为探针针尖与芳纶短切纤维和沉析纤维—NH—之间的相互作用与pH值相关,芳纶沉析纤维修饰的探针与芳纶沉析纤维之间的黏附力受pH值的影响较大。 展开更多
关键词 afm 探针修饰 黏附力 PH值 -NH-
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近场光镊与AFM探针复合的光阱力分析 被引量:1
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作者 刘炳辉 杨立军 +1 位作者 王扬 袁巨龙 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2011年第2期1-8,共8页
本文针对纳米材料的纳米操作,提出了一种复合激光近场光镊与AFM探针进行纳米操作的方法,并基于动量守恒原理,采用三维时域有限差分方法建立了该方案中激光近场对纳米微粒的作用力模型,分析了各轴向光阱力的分布情况,讨论了两探针间距离... 本文针对纳米材料的纳米操作,提出了一种复合激光近场光镊与AFM探针进行纳米操作的方法,并基于动量守恒原理,采用三维时域有限差分方法建立了该方案中激光近场对纳米微粒的作用力模型,分析了各轴向光阱力的分布情况,讨论了两探针间距离、针尖材料的电导率、入射平面光场的偏振方向、入射角和波长等参数对近场光阱力的影响。结果表明:位于耦合光场中特定位置的微粒可被捕获至固定位置,所需的捕获功率大大低于传统光镊所需的捕获功率;为实现稳定的纳米操作,光纤探针与AFM探针的距离应保持在孔径范围内,两探针的相互位置应保持成垂直关系,同时应选用短波长的捕获激光,并保持激光偏振方向与AFM探针轴线的匹配。本文设计的近场光镊与AFM探针相复合的纳米操作系统,能大大扩宽近场光镊和AFM系统在纳米操作上的应用范围。 展开更多
关键词 三维时域有限差分法 光阱力 近场光镊 afm探针
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AFM微颗粒探针及其在膜的有机物污染机制解析中的应用研究与展望 被引量:2
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作者 王磊 苗瑞 +2 位作者 吕永涛 刘紫文 冯玲 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第13期113-117,共5页
依据原子力显微镜(AFM)微颗粒探针克服了AFM普通探针的诸多局限性及其对测试环境无要求,且能定量测定微颗粒探针与膜及污染物间的相互作用力及其变化等特点,在AFM微颗粒探针制备技术的发展及其在分离膜中的应用研究动向的基础上,详细讨... 依据原子力显微镜(AFM)微颗粒探针克服了AFM普通探针的诸多局限性及其对测试环境无要求,且能定量测定微颗粒探针与膜及污染物间的相互作用力及其变化等特点,在AFM微颗粒探针制备技术的发展及其在分离膜中的应用研究动向的基础上,详细讨论了AFM微颗粒探针的制备方法及其在膜的有机物污染研究中的具体应用,提出了AFM微颗粒探针在分离膜的有机物污染机制解析中亟待研究的问题,为科学地分析分离膜有机物污染机制及分离膜的工程设计与运行提供新的思路和途径。 展开更多
关键词 原子力显微镜(afm) 分离膜 微颗粒探针 膜有机物污染 机理解析
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AFM模式下扫描图像质量的影响因素 被引量:3
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作者 金永中 陈建 孙亚丽 《四川理工学院学报(自然科学版)》 CAS 2005年第4期72-74,共3页
介绍了扫描探针显微镜(SPM)的AFM模式的工作原理,观察了聚四氟乙烯胶粒的微观形貌, 并指出影响AFM图像质量的主要因素。
关键词 扫描探针显微镜 afm模式 纳米形貌 影响因素
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基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法(英文) 被引量:1
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作者 景大雷 李大勇 赵学增 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第2期272-276,共5页
固液界面的表面电荷会影响微纳流体系统的流体阻力,因此如何测量固液界面的表面电荷密度以及分析表面电荷的产生机理对于研究表面电荷对流体阻力的影响具有较大的意义。提出了一种基于接触式AFM的固液界面表面电荷密度测量方法。基于该... 固液界面的表面电荷会影响微纳流体系统的流体阻力,因此如何测量固液界面的表面电荷密度以及分析表面电荷的产生机理对于研究表面电荷对流体阻力的影响具有较大的意义。提出了一种基于接触式AFM的固液界面表面电荷密度测量方法。基于该方法测量了浸在去离子水和0.01mol/L的NaCl溶液中的高硼硅玻璃和二氧化硅样本的表面电荷密度,并研究了溶液pH值对表面电荷的影响。研究结果表明高硼硅玻璃和二氧化硅由于表面硅烷基的电离带负电。溶液pH值和离子浓度的增加都会增加浸在去离子水和0.01mol/L的NaCl溶液中高硼硅玻璃和二氧化硅的表面电荷密度的绝对值。 展开更多
关键词 表面电荷密度 固液界面 静电力力 探针原子力显微镜
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基于扫描探针显微镜的茅台酒AFM微观扫描图研究 被引量:3
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作者 吴士业 张敬雨 +3 位作者 钟世荣 刘云波 何彪 赵金松 《食品与发酵科技》 CAS 2010年第1期11-12,17,共3页
一些名优白酒中所含呈香呈味微量物质在乙醇-水体系中形成了各自微观形态。本文采用扫描探针显微镜对酱香型茅台酒的三种不同度数成品酒作了AFM(原子力显微镜模式)扫描,作出AFM微观扫描图。从扫描图上可以观察到茅台成品酒的微观形态,... 一些名优白酒中所含呈香呈味微量物质在乙醇-水体系中形成了各自微观形态。本文采用扫描探针显微镜对酱香型茅台酒的三种不同度数成品酒作了AFM(原子力显微镜模式)扫描,作出AFM微观扫描图。从扫描图上可以观察到茅台成品酒的微观形态,其与浓香型白酒的微观形态比较呈现出一种景观。 展开更多
关键词 扫描探针显微镜 微观形态 酱香型 白酒 afm扫描图
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Simulation of Electrical Discharge Initiated by a Nanometer-Sized Probe in Atmospheric Conditions
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作者 陈然 陈池来 +5 位作者 刘友江 王焕钦 马源 Michael CADA Jrgen BRUGGER 孔德义 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第9期845-851,共7页
In this paper, a two-dimensional nanometer scale tip-plate discharge model has been employed to study nanoscale electrical discharge in atmospheric conditions. The field strength dis- tributions in a nanometer scale t... In this paper, a two-dimensional nanometer scale tip-plate discharge model has been employed to study nanoscale electrical discharge in atmospheric conditions. The field strength dis- tributions in a nanometer scale tip-to-plate electrode arrangement were calculated using the finite element analysis (FEA) method, and the influences of applied voltage amplitude and frequency as well as gas gap distance on the variation of effective discharge range (EDR) on the plate were also investigated and discussed. The simulation results show that the probe with a wide tip will cause a larger effective discharge range on the plate; the field strength in the gap is notably higher than that induced by the sharp tip probe; the effective discharge range will increase linearly with the rise of excitation voltage, and decrease nonlinearly with the rise of gap length. In addition, probe dimension, especially the width/height ratio, affects the effective discharge range in different manners. With the width/height ratio rising from 1 : 1 to 1 : 10, the effective discharge range will maintain stable when the excitation voltage is around 50 V. This will increase when the excitation voltage gets higher and decrease as the excitation voltage gets lower. Fhrthermore, when the gap length is 5 nm and the excitation voltage is below 20 V, the diameter of EDR in our simulation is about 150 nm, which is consistent with the experiment results reported by other research groups. Our work provides a preliminary understanding of nanometer scale discharges and establishes a predictive structure-behavior relationship. 展开更多
关键词 nanodischarge nanoscale afm probe Peek's formula modified Paschencurve effective discharge range probe based data storage nanometer-sized ion source
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AFM探针针尖与试件表面接触力计算方法研究 被引量:2
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作者 程国东 杨晓京 《电子显微学报》 CAS CSCD 2015年第3期234-239,共6页
原子力显微镜是利用接近试样表面的探针针尖上的作用力而工作的。针尖与试件表面纳米接触力的变化对表面检测有重要的影响。在分析原子力显微镜工作原理和纳米接触力计算模型基础上,根据Hamaker假设,利用连续介质方法,建立了针尖同试样... 原子力显微镜是利用接近试样表面的探针针尖上的作用力而工作的。针尖与试件表面纳米接触力的变化对表面检测有重要的影响。在分析原子力显微镜工作原理和纳米接触力计算模型基础上,根据Hamaker假设,利用连续介质方法,建立了针尖同试样表面在接近过程中的纳米接触力计算模型;根据Hertzian接触理论,建立了针尖同试样表面在接触压入过程中的接触力的计算模型。通过叠加计算,获得了耦合接近过程和接触压入过程中的接触力计算方法。根据计算模型,利用Matlab编程计算获得了针尖与试样表面纳米接触作用力的变化规律。为提高原子力显微镜的表面检测精度和进行误差分析提供基础。 展开更多
关键词 afm afm探针 接触力 Hamaker假设 Hertzian接触理论
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基于AFM探针的电晕放电研究
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作者 赵贵 孔德义 +3 位作者 Juergen Brugger 陈池来 程玉鹏 李庄 《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2011年第11期28-30,34,共4页
针对扫描探针显微镜与质谱联用系统中的采样方式,提出了利用原子力显微镜(AFM)探针进行电晕放电解吸附的采样方案。运用ANSYS软件对AFM导电探针进行了有限元仿真,电场分析表明间距100μm加1 kV高压时的AFM探针周围场强在0.32~62.4 V/μ... 针对扫描探针显微镜与质谱联用系统中的采样方式,提出了利用原子力显微镜(AFM)探针进行电晕放电解吸附的采样方案。运用ANSYS软件对AFM导电探针进行了有限元仿真,电场分析表明间距100μm加1 kV高压时的AFM探针周围场强在0.32~62.4 V/μm间,验证了利用其产生电晕放电的可行性;通过实验观察了电晕放电现象及其规律,测得了AFM探针加高压时的伏安特性曲线,为下一步利用AFM探针产生电晕放电进行非触式采样奠定了良好的基础。 展开更多
关键词 原子力显微镜探针 电晕放电 微机电系统 ANSYS 非接触式采样
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基于AFM胶体探针测量液固界面DLVO力及表面电势
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作者 田维芳 郑旭 +1 位作者 李战华 徐征 《实验流体力学》 CSCD 北大核心 2017年第4期16-21,共6页
表面电势是微纳流控芯片中流体流动的重要参数。本文介绍了基于AFM胶体探针技术测量液固界面DLVO力并进一步测量表面电势及表面电荷密度的方法。本文改进了胶体探针制作的技术手段,并提出用双探针法测量胶体探针的弹性系数。在0.1~1mM... 表面电势是微纳流控芯片中流体流动的重要参数。本文介绍了基于AFM胶体探针技术测量液固界面DLVO力并进一步测量表面电势及表面电荷密度的方法。本文改进了胶体探针制作的技术手段,并提出用双探针法测量胶体探针的弹性系数。在0.1~1mM浓度范围内的NaCl溶液中,测量了硅、二氧化硅和氮化硅液固界面双电层内的DLVO力及表面电势。实验结果表明胶体探针技术可以很好地测量液固界面的DLVO力,尤其对静电力指数变化段非常敏感。通过DLVO力曲线可以间接测量表面电势、表面电荷密度等重要参数,是微纳流动及界面属性测量的有效手段。此外,在不同硅基材料表面的测量结果显示了硅烷醇基密度对表面电势起主导作用,可以通过选用不同硅烷醇基密度的材料来有效调控表面电势,从而在硅基材料制作的微流控芯片中调控电动流动的强弱。 展开更多
关键词 afm 胶体探针 液固界面 DLVO力 表面电势
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AFM测试参数对等高粗糙表面黏着影响的实验研究
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作者 陈荣誉 黄平 《润滑与密封》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期6-9,共4页
采用具有600 nm周期的一维硅光栅来表示等高粗糙表面,研究AFM的测试参数对等高粗糙表面的黏着影响。实验所使用的探针为平头探针(PL2-CONTR-10,Nanosensors),其针尖直径为2μm,实验分别在空气中以及干燥环境下进行,通过力曲线的测量,计... 采用具有600 nm周期的一维硅光栅来表示等高粗糙表面,研究AFM的测试参数对等高粗糙表面的黏着影响。实验所使用的探针为平头探针(PL2-CONTR-10,Nanosensors),其针尖直径为2μm,实验分别在空气中以及干燥环境下进行,通过力曲线的测量,计算出黏着力的平均值以及标准差。结果表明:载荷与停留时间会引起黏着力的略微增大或减小,但总体影响不是很大;在空气中,随着退针速率加快,黏着力先表现出先增大然后减小的趋势;而在干燥环境下,黏着力随着退针速率的加快逐渐减小。 展开更多
关键词 等高粗糙 硅光栅 afm 黏着 平头探针
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An improved fabrication method for carbon nanotube probe
16
作者 徐宗伟 国立秋 +1 位作者 董申 赵清亮 《Journal of Harbin Institute of Technology(New Series)》 EI CAS 2008年第5期690-693,共4页
An improved arc discharge method is developed to fabricate the carbon nanotube probe. In this method, the silicon probe and the carbon nanotube were manipulated under an optical microscope. When the silicon probe and ... An improved arc discharge method is developed to fabricate the carbon nanotube probe. In this method, the silicon probe and the carbon nanotube were manipulated under an optical microscope. When the silicon probe and the carbon nanotube were very close, 30-60 V dc or ac was applied between them, and the carbon nanotube was divided and attached to the end of the silicon probe. Comparing with the arc discharge method, the new method need not coat the silicon probe with metal in advance, which can greatly reduce the fabrication difficulty and cost. The fabricated carbon nanotube probe exhibits the good property of high aspect ratio and can reflect the true topography more accurately than the silicon probe. 展开更多
关键词 碳纳米管 原子力显微镜 探头 制作方法
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A novel colloid probe preparation method based on chemical etching technique
17
作者 XU Hui XU Guo-hua AN Yue 《Journal of Zhejiang University-Science B(Biomedicine & Biotechnology)》 SCIE CAS CSCD 2006年第4期304-309,共6页
Several fundamental problems in hydrophobic force measurements using atomic force microscope (AFM) are dis-cussed in this paper. A novel method for colloid probe preparation based on chemical etching technology is pro... Several fundamental problems in hydrophobic force measurements using atomic force microscope (AFM) are dis-cussed in this paper. A novel method for colloid probe preparation based on chemical etching technology is proposed, which is specially fit for the unique demands of hydrophobic force measurements by AFM. The features of three different approaches for determining spring constants of rectangular cantilevers, including geometric dimension, Cleveland and Sader methods are com-pared. The influences of the sizes of the colloids on the measurements of the hydrophobic force curves are investigated. Our experimental results showed that by selecting colloid probe with proper spring constant and tip size, the hydrophobic force and the complete hydrophobic interaction force curve can be measured by using AFM. 展开更多
关键词 胶体探针 化学浸蚀 疏水力 原子力显微镜
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AFM探针在木材样品测试中的选择与应用
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作者 高永伟 《林业机械与木工设备》 2022年第12期80-84,共5页
原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌纳米级观察,并可得到杨氏模量、摩擦力等各种物理参数,但原子力显微镜所使用的探针种类繁多,功能各异,选择合适的探针对获得满意的图象和其他信息至关重要。针对探针的构造进行了系统介绍,对各种功... 原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌纳米级观察,并可得到杨氏模量、摩擦力等各种物理参数,但原子力显微镜所使用的探针种类繁多,功能各异,选择合适的探针对获得满意的图象和其他信息至关重要。针对探针的构造进行了系统介绍,对各种功能的探针进行了分类说明,对检测不同木材样品时的探针选择给出了建议,为科研工作者使用AFM时的探针选择提供技术参考。 展开更多
关键词 原子力显微镜 探针 木材测试 微悬臂
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基于多尺寸微球探针石墨烯表面超低摩擦研究 被引量:1
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作者 虞康 许佩佩 +1 位作者 张修硕 黄瑶 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第8期956-964,共9页
微纳器件因尺寸缩小带来极高的比表面积,尺度效应引起的表面黏附和摩擦等凸显.本文中基于原子力显微镜(AFM)借助不同尺寸的微球探针,探究尺度效应对石墨烯表面的黏附力及摩擦力的影响.试验结果表明:当针尖-样品接触副材料相同时,黏附力... 微纳器件因尺寸缩小带来极高的比表面积,尺度效应引起的表面黏附和摩擦等凸显.本文中基于原子力显微镜(AFM)借助不同尺寸的微球探针,探究尺度效应对石墨烯表面的黏附力及摩擦力的影响.试验结果表明:当针尖-样品接触副材料相同时,黏附力和摩擦力均随着针尖尺寸的增大而增大;黏附力和摩擦力的增大有助于石墨烯转移到针尖表面,当针尖表面黏有石墨烯后,石墨烯/石墨烯接触副使得黏附力、摩擦力及摩擦系数远远低于正常水平,摩擦系数低至0.001级别,实现超低摩擦. 展开更多
关键词 石墨烯 微球探针 afm 摩擦力 黏附力
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Quantitatively probing interactions between membrane with adaptable wettability and oil phase in oil/water separation
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作者 Zhong-Zheng Xu Ming-Wei Zhao +6 位作者 Yi-Ning Wu Jia-Wei Liu Ning Sun Zi-Zhao Wang Yi-Ming Zhang Lin Li Cai-Li Dai 《Petroleum Science》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第4期2564-2574,共11页
The membrane method based on adaptive wettability shows great advantages in oil-water separation.At present,researches focus on the excellent application performance of the membrane material,while the quantitative ana... The membrane method based on adaptive wettability shows great advantages in oil-water separation.At present,researches focus on the excellent application performance of the membrane material,while the quantitative analysis of interactions in oil-water separation is rarely recognized.Herein,we constructed an adaptable wettability membrane with multiple polymer networks by polydopamine(PDA)and mussel-inspired amphiphilic polymer.Based on the Owens three-probe liquid method,the surface energy of the modified membrane was verified to meet the adaptive wettability conditions,with surface energies(γ-8)of 147.6 mJ m^(−2)(superhydrophilic/underwater superoleophobic)and 49.87 mJ m^(−2)(superhydrophobic/superoleophobic),respectively.The adhesion or repulsion of the membrane to the oil phase under different conditions during the separation process was quantified by the chemical probe AFM technique.In addition,the oil-water selective separation mechanism was further analyzed in a simplified membrane microchannel model.The results show that the different wetting produces capillary additional pressure in opposite directions,resulting in different energies to be overcome when the oil or water passes through the microchannels,thus achieving selective separation. 展开更多
关键词 Adaptable wettability Selective oil/water separation Interface interaction probe afm technique
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