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纤锌矿结构AlInN电子及光学性质的第一性原理研究 被引量:7
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作者 高婷婷 王新强 +1 位作者 邝向军 何阿玲 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期963-968,共6页
本文通过基于密度泛函理论的第一性原理,研究了纤锌矿结构Al_(1-x)In_xN在不同In浓度下的稳固结构,以及电子和光学性质的变化规律.研究表明,AlInN不同In浓度的晶格结构都很稳定,说明AlInN的兼容性很好.晶格常数随In浓度的增大不断增大,... 本文通过基于密度泛函理论的第一性原理,研究了纤锌矿结构Al_(1-x)In_xN在不同In浓度下的稳固结构,以及电子和光学性质的变化规律.研究表明,AlInN不同In浓度的晶格结构都很稳定,说明AlInN的兼容性很好.晶格常数随In浓度的增大不断增大,而混晶的带隙则不断减小.并且随In浓度的增大,混晶在紫外光区的吸收系数、反射系数及折射率增大,吸收边、吸收峰和反射峰红移,且这两个峰的峰值减小.AlInN的吸收、反射和折射率曲线在Eg处出现峰值行为,此Eg处的峰值大小随In浓度的增加而增大.当In浓度达到87.5%时,混晶AlInN在紫外光区的吸收、反射和折射能力均达到最强,表明此时的掺杂效果最好. 展开更多
关键词 alinn 稳固结构 电子结构 光学性质
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AlInN光电薄膜的研究进展
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作者 芦伟 徐明 +1 位作者 董成军 魏屹 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第7期132-137,共6页
AlInN三元合金是优良的Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料,具有优良的光学和电学性能,在光电子器件应用方面具有广阔的应用前景。详细评述了近年来AlInN薄膜材料在生长技术、晶体结构、表面形貌、热学特性、光电特性等方面的研究,为AlInN三元合... AlInN三元合金是优良的Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料,具有优良的光学和电学性能,在光电子器件应用方面具有广阔的应用前景。详细评述了近年来AlInN薄膜材料在生长技术、晶体结构、表面形貌、热学特性、光电特性等方面的研究,为AlInN三元合金在光电方面的基础和应用研究提供了重要参考。 展开更多
关键词 alinn薄膜 制备方法 特性 应用
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半导体氮化物AlInN的光学性质
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作者 蒋立峰 沈文忠 郭其新 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第3期207-211,241,共6页
测量了AlInN薄膜(包括InN和AlN)的透射和反射光谱,结合四层透射和反射模型得到AlInN的一系列变温光学性质,包括吸收系数、能带带隙、乌尔巴赫带尾参数、折射率等等.采用一套经验公式,描述InN薄膜在本征吸收区和乌尔巴赫吸收区的吸收系数... 测量了AlInN薄膜(包括InN和AlN)的透射和反射光谱,结合四层透射和反射模型得到AlInN的一系列变温光学性质,包括吸收系数、能带带隙、乌尔巴赫带尾参数、折射率等等.采用一套经验公式,描述InN薄膜在本征吸收区和乌尔巴赫吸收区的吸收系数.发现带隙以下,AlN薄膜的折射率遵守Sellmeier经验公式.用基于态密度和载流子—声子相互作用的带尾态理论,很好地解释了AlInN薄膜中带尾态现象.通过测量显微拉曼光谱,研究了AlInN薄膜的晶格振动性质.运用详细的模型(考虑了晶格热膨胀、残余应力和多声子耦合),阐释了AlInN声子频率的变温特性.了解AlInN薄膜的这些光学性质是相当重要的,不仅有利于透彻了解材料的基本性质还有利于相关光电子器件的开发. 展开更多
关键词 alinn薄膜 光学性质 温度行为
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AlInN三明治势垒GaN HFET 被引量:1
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作者 薛舫时 孔月婵 +3 位作者 董逊 周建军 李忠辉 陈辰 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期421-428,472,共9页
介绍了国际上AlInN势垒HFET的最新发展。从器件性能分析中发现这种新势垒显著提高了沟道电子气密度,增大了强场漂移速度,消除应变提高了器件可靠性和热稳定性,能在高温下有效工作,使GaN HFET研究走上新的台阶。但是薄势垒引起的大栅流... 介绍了国际上AlInN势垒HFET的最新发展。从器件性能分析中发现这种新势垒显著提高了沟道电子气密度,增大了强场漂移速度,消除应变提高了器件可靠性和热稳定性,能在高温下有效工作,使GaN HFET研究走上新的台阶。但是薄势垒引起的大栅流和电流崩塌是阻碍器件性能提高和实际应用的主要瓶颈。利用AlInN/AlGaN异质界面的大能带带阶和强极化电荷来剪裁能带,设计出新的三明治势垒,满足内、外沟道和欧姆接触势垒的要求。可望消除上述瓶颈,使AlInN势垒GaN HFET付诸实用。 展开更多
关键词 铝铟氮/氮化镓异质结场效应管 铝铟氮三明治势垒 栅流 电流崩塌 二维异质结构
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AlInN/AlGaN复合势垒增强模GaN HFET
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作者 薛舫时 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期1-8,共8页
通过自洽求解薛定谔方程和泊松方程计算了势垒层挖槽过程中沟道阱能带和电子气密度的变化。研究了异质界面上极化电荷的大小和位置对沟道阱能带和能带剪裁力度的影响。发现帽层/势垒层界面上的界面阱会导致沟道电子波函数渗透到势垒层,... 通过自洽求解薛定谔方程和泊松方程计算了势垒层挖槽过程中沟道阱能带和电子气密度的变化。研究了异质界面上极化电荷的大小和位置对沟道阱能带和能带剪裁力度的影响。发现帽层/势垒层界面上的界面阱会导致沟道电子波函数渗透到势垒层,引起能带畸变,降低电子的二维特性和输运性能。选用复合势垒并优化设计异质界面的能带带阶、极化电荷和AlN插入层,可以抬高界面阱的阱位,防止沟道电子波函数渗透到势垒层。AlInN/AlGaN复合势垒能显著提高挖槽中的能带剪裁力度,构筑出高导电的外沟道和在零栅压下夹断的内沟道,满足增强模工作要求。 展开更多
关键词 增强模 铝铟氮/铝镓氮复合势垒 界面阱 能带剪裁力度 能带畸变
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Highly Sensitive Detection of Deoxyribonucleic Acid Hybridization Using Au-Gated AlInN/GaN High Electron Mobility Transistor-Based Sensors
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作者 占香蜜 郝美兰 +7 位作者 王权 李巍 肖红领 冯春 姜丽娟 王翠梅 王晓亮 王占国 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2017年第4期75-78,共4页
Gallium nitride- (GaN) based high electron mobility transistors (HEMTs) provide a good platform for biological detection. In this work, both Au-gated AlInN/GaN HEMT and AlGaN/GaN HEMT biosensors are fabricated for... Gallium nitride- (GaN) based high electron mobility transistors (HEMTs) provide a good platform for biological detection. In this work, both Au-gated AlInN/GaN HEMT and AlGaN/GaN HEMT biosensors are fabricated for the detection of deoxyribonucleic acid (DNA) hybridization. The Au-gated AIInN/GaN HEMT biosensor exhibits higher sensitivity in comparison with the AlGaN/GaN HEMT biosensor. For the former, the drain-source current (VDS = 0.5 V) shows a clear decrease of 69μA upon the introduction of 1μmolL^-1 (μM) complimentary DNA to the probe DNA at the sensor area, while for the latter it is only 38 μA. This current reduction is a notable indication of the hybridization. The high sensitivity can be attributed to the thinner barrier of the AlInN/GaN heterostructure, which makes the two-dimensional electron gas channel more susceptible to a slight change of the surface charge. 展开更多
关键词 GAN In Highly Sensitive Detection of Deoxyribonucleic Acid Hybridization Using Au-Gated alinn/GaN High Electron Mobility Transistor-Based Sensors
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Metal-modulated epitaxy of Mg-doped Al_(0.80)In_(0.20)N-based layer for application as the electron blocking layer in deep ultraviolet light-emitting diodes
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作者 Horacio Irán Solís-Cisneros Carlos Alberto Hernández-Gutiérrez +1 位作者 Enrique Campos-González Máximo López-López 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2024年第5期80-89,共10页
This work reports the growth and characterization of p-AlInN layers doped with Mg by plasma-assisted molecular beam epitaxy(PAMBE).AlInN was grown with an Al molar fraction of 0.80 by metal-modulated epitaxy(MME)with ... This work reports the growth and characterization of p-AlInN layers doped with Mg by plasma-assisted molecular beam epitaxy(PAMBE).AlInN was grown with an Al molar fraction of 0.80 by metal-modulated epitaxy(MME)with a thickness of 180 nm on Si(111)substrates using AlN as buffer layers.Low substrate temperatures were used to enhance the incorporation of indium atoms into the alloy without clustering,as confirmed by X-ray diffraction(XRD).Cathodoluminescence measurements revealed ultraviolet(UV)range emissions.Meanwhile,Hall effect measurements indicated a maximum hole mobility of 146 cm^(2)/(V∙s),corresponding to a free hole concentration of 1.23×10^(19)cm^(−3).The samples were analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)estimating the alloy composition and extracting the Fermi level by valence band analysis.Mg-doped AlInN layers were studied for use as the electron-blocking layer(EBL)in LED structures.We varied the Al composition in the EBL from 0.84 to 0.96 molar fraction to assess its theoretical effects on electroluminescence,carrier concentration,and electric field,using SILVACO Atlas.The results from this study highlight the importance and capability of producing high-quality Mg-doped p-AlInN layers through PAMBE.Our simulations suggest that an Al content of 0.86 is optimal for achieving desired outcomes in electroluminescence,carrier concentration,and electric field. 展开更多
关键词 metal-modulated epitaxy alinn DUV-LED EBL simulation
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原位钝化和催化剂钝化沟道阱能带计算
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作者 薛舫时 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期319-327,共9页
把Si3N4/AlGaN界面看成新的异质结,自洽求解薛定谔方程和泊松方程,建立起原位钝化和CATCVD钝化异质结构的新能带模型。运用这一模型,研究了原位钝化和CATCVD钝化异质结沟道阱的电子气密度、能带结构和输运性能,解释了相应的实验结果。... 把Si3N4/AlGaN界面看成新的异质结,自洽求解薛定谔方程和泊松方程,建立起原位钝化和CATCVD钝化异质结构的新能带模型。运用这一模型,研究了原位钝化和CATCVD钝化异质结沟道阱的电子气密度、能带结构和输运性能,解释了相应的实验结果。在此基础上研究了这些新钝化异质结沟道阱能带的优化设计。优化设计的钝化复合势垒沟道阱电子气密度高达3.138×1013cm-2,而且沟道电子保持强量子限制,预期能达到高输运性能。讨论了运用这种钝化沟道阱来设计外沟道和二维异质结构、抑制电流崩塌的新课题。 展开更多
关键词 原位钝化氮化硅 催化剂化学气相淀积氮化硅 氮化硅/半导体异质结 铝镓氮/铝铟氮复合势垒 能带剪裁 动态电流崩塌模型 二维异质结构
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