基于ALPG技术的模块化动态向量开发方法

随着半导体技术的发展,集成电路测试愈加重要,测试向量作为集成电路测试的核心,具有重要的研究价值。本文介绍了一种模块化动态向量的开发方法。该方法从仿真验证出发,结合自动化测试机台的算法向量发生器(algorithmic pattern generator,ALPG)部件,设计了一整套模块化动态向量的开发方法。详细阐述了该方法的开发流程,各个模块的构造方法,对比介绍了该方法的显著优势。该方法已成功运用于多款产品的测试调试和量产当中。

算法图形产生器模块分析

描述了自动测试系统内置的算法图形产生器(ALPG)模块,对它的硬件结构、测试图形程序构成以及测试算法等方面进行了研究。