基于POI和AOI数据的贵阳市生活圈便捷性测度

公共服务设施的空间布局对城市的宜居性产生重要影响。15分钟生活圈构建是“以人为本”城市规划理念的具体实践。基于贵阳市公共服务设施互联网开放数据,运用机会累积法,对贵阳市住宅小区5分钟、10分钟和15分钟生活圈便捷性进行测度,研究发现:可达性视角,优质住宅小区占比低,5分钟生活圈的可达性优于10分钟、15分钟生活圈;可达设施多样性,5分钟生活圈的达标率最低;贵阳市生活圈达标住宅占比仅为5.49%,部分种类日常设施点分布具有区域特性。贵阳市提高宜居性,应加强生活圈便捷性建设。

SPI、AOI、X-RAY 三种检查方法在汽车电子贴片行业的比较和应用研究

近年来,汽车电子贴片产业有了快速发展。为保证汽车电子贴片生产的效率和高良品率,各种检查方法被广泛应用于贴片生产,比较常用又能被认可的检查方法有SPI、AOI、X-RAY三种,这三种检查方法在汽车电子贴片行业中的地位是举足轻重的。本研究通过对比这三种检查方法的工作原理、优点、不足和改进点,旨在探讨如何选择和应用更合适的检查方法以提高生产效率和产品质量。

针对AOI的不良品漏检的自动判定

自动光学检测(AOI)作为单板生产过程的重要拦截工序之一,存在着焊接不良品漏检的问题,造成不良品维修成本的增加。为此,成立了AOI攻关团队,深入分析不良品漏检根因,积极探索。通过海量数据分析和迭代改进,开发了“Missing算法”,在AOI判错算法上实现了突破,大大提升了检测准确性。基于该算法开发的AOI自动拦截系统,从技术上有效解决了不良品漏检的问题,还可以对AOI自动拦截的数据实时预警,加快闭环速度。介绍了攻关团队开发和应用AOI自动拦截系统的实践经验。

AOI设备检验原理与检测技术应用及发展前景分析

自上世纪以来,各国的电子产业都开始蓬勃发展,进入发展的新纪元,电子工业中由于涉及各种功能不一的元器件,各类元器件纷繁复杂。同时涉及的工艺以及制作流程都越来越复杂,与此同时,元器件的精密度也在不断提高,出现了现有检测设备无法满足要求的情况,为了提高工艺流程的良品率,自动光学检测设备开始应用到产品的制作工序中,给电子工业的生产带来了新的助力,随着自动光学检测设备的不断发展,对AOI设备也有了新的要求,AOI设备正朝着分辨力高、检测速度快、扫描时间短、拍摄图片清晰、操作软件简易化、设计的模块化和系统处理程序化等方向发展。

浅谈AOI技术对SMT产线的应用

随着电子行业中表面贴装技术(SMT)的普遍发展和焊接水平的不断提高,印刷电路板(PCB)也日趋于小型化、高密度化、高集成化、高效益化的特点,人们对PCB的生产质量越来越高,而单纯依靠老式的人工目测来保证质量的话,已难以满足生产的要求。下面通过叙述AOI技术的含义,工作原理,简述AOI技术的功能及优缺点等,来陈述AOI技术对SMT产线的重要程度情况。

智能化3D-AOI技术的分析与应用研究

在国家工业制造领域全面智能化转型的过程中,质量检测方式正在由人工目检、传统机器视觉向AI视觉检测的方式转变。AI视觉检测使用智能算法赋能3D-AOI检测设备,以深度学习算法为核心并面向多种质量缺陷形态进行统一建模,构建大规模的工艺缺陷知识库。基于对主流3D-AOI设备的深度使用与研究,分别从上板运动机构、图像采集系统和缺陷检测算法三个部分对AI视觉检测技术的特点、先进性和应用范围进行详细阐述与对比,充分论证智能化3D-AOI技术对检验流程的优化方案,在提高质量检测精度效率的同时减少人工依赖。

基于FTU的主动配电网AoI研究

FTU是安装在配电室或馈线上的智能终端设备,可以实现对线路的分段监测和控制。为了在基于FTU业务中获得准确状态,必须保持数据信息的新鲜度,同时考虑极端事件对配电网的影响。该文研究了系统的峰值信息年龄(age of information,AoI),分析了短包传输的块错误概率;利用随机网络演算(stochastic network calculus,SNC)推导峰值AoI及其违背概率;采用A3C(asynchronous advantage actorcritic)方法,最小化峰值AoI违背概率,并对所提算法进行对比验证。发现基于A3C的服务卸载方案可以提高信息新鲜度,在大约1200次事件后节约总时间逐渐平稳,相比于无卸载方案节约总时间最多增加了2.08 ms;相比于块固定方案节约总时间增加了1.03 ms,说明自适应块长度可以有效地降低信息年龄。发现峰值AoI违背概率是FTU的增函数,在100个FTU时,基于A3C的卸载方案的峰值AoI违背概率约为0.12,相比于现有方案的0.27,降低了55.6%。

AOI检测系统光照不均的校正方法研究

针对电子组装业自动光学检测(automatic optical inspection,AOI)系统光照不均情况,分析了背景去除法、传统同态滤波法2种校正方法,并将一种改进的基于小波变换的同态滤波方法应用于该领域。该方法对目标图像进行多层小波分解,对各层高低频系数滤波处理,减弱低频系数,增强高频系数,然后进行小波重构,从而达到光照不均校正的目的。然后取PCBA(printed circuit board assembly)图像进行了3种方法的实验对比,结果证明了改进的基于小波变换的同态滤波方法在AOI系统中具有很强的实用性。

基于混合方法的眼动实验AOI划分及设计评价

为进一步提升工业产品评价类眼动实验的合理性,解决实验中AOI划分缺乏系统方法的问题,提出了基于混合方法的眼动实验AOI划分方法.通过分析混合研究方法的类型和程序,构建基于顺序探究设计的AOI划分方法模型.以评价现调机设计方案的眼动实验AOI划分为例,验证该方法模型的可靠性.在质化研究部分应用扎根理论和质化分析软件,在量化研究部分开展眼动预实验,最终应用因子分析获得现调机的灯箱、接水盘两个AOI,为进一步开展正式眼动实验提供了保障.该研究提供一套易于操作的用于设计评价类眼动实验的AOI划分方法,有助于提升AOI划分合理性,提高眼动实验效率,筛选有价值的研究对象,更好地推动设计评价和产品设计的开展.

基于Twain接口的AOI系统

以工业PCB检测为研究对象,建立了一种基于Twain接口的新型AOI系统。重点研究了Twain接口的管理、颜色空间的选取和PCB瑕疵检测的方法。结合实际应用对如何提高检测速度和检测效率进行了较为深入的探讨,实验结果验证了该系统的可行性。

基于AOI职业教育观的专科口腔医学专业课程体系改革

围绕专科口腔医学专业人才培养目标,基于AOI职业教育观,提出了对口腔医学专业课程体系构建、理论教学系统的设计,实践教学系统的设计以及职业素质教育设计思路,构建新的课程体系实施进程和对教学改革的建议,以便更好地进行人才培养,满足基层对口腔医学人才的需求。

SMT产品缺陷及相应的AOI检测方法

SMT表面贴片安装产品的质量缺陷类别、表现、国外AOI产品的参数指标都是AOI国产化研究所需要弄清的内容,本文列举了其所有可能的缺陷、原因和相应的AOI检测方法。文章还列举了主要国内外AOI设备的硬件和技术性能指标参数,可供国内AOI研究开发者参考。

美国AOI职业教育改革述评

AOI是美国职教工作者上世纪90年代至今一直倡导并实施的教育理念,对美国社区学院课程改革产生了深刻的影响。本文介绍了AOI方案的基本模式、具体实施个案、实施过程中遇到的障碍,并就如何实现职业教育与学术教育有机结合,促进职业教育改革等问题进行了探索。

AdaBoost算法在AOI统计学习建模中的应用

PCB贴片安装机器视觉检测中,再流焊前后的很多检测中的特征必须依赖对样本的统计学习。机器学习中的AdaBoost算法可以将多个弱学习器组合提升为一个强学习器。提出将其应用于AOI的统计学习和检测,可以提高检测精度和速度,并提高泛化性能。对比试验证明了该方法的有效性。

AOI机器视觉系统中检测光源的分析和设计

检测是控制PCB焊接质量的关键环节,为了提高AOI(Automated Optical Inspection)系统的性能本文对AOI光源进行了研究。根据光强传递函数和照明原理,设计了二级照明光源系统,并根据检测对象的不同建立了相应的五种照明模式,在各种照明模式下采集到的检测对象的图像质量优,达到了各种元件图像采集的要求。

AOI系统在SMT生产线上的应用

介绍了AOI技术的主导思想、实施策略、技术新突破和设备。

SMT产品质量AOI快速检测方案

PCB贴片安装后的SMT产品缺陷的机器视觉检测速度必须满足安装生产线的实时性要求,由于实际生产中缺陷率很低,所以本文提出了快速、准确进行AOI检测的两步法方案:先通过单个图像特征快速筛选出绝大多数合格产品,以减少对这些产品进行复杂检测的处理时间,同时保持零漏检;然后对未通过第一步检测的产品进行基于ANN的多特征复杂准确检测。实验证明了本方案的快速和准确性。

美国社区学院AOI教育及对我国高职公共基础课改革的启示

AOI是美国职教界从上世纪90年代至今一直倡导并实施的教育理念,对美国社区学院课程改革产生了深刻的影响。本文介绍了AOI的基本模式并就如何改革我国高职公共基础课进行了探索。

照明光源在AOI中的重要性及设计要素分析

对用于PCB的自动光学检测设备的光源部分的设计要素进行了叙述,从照明的颜色、强度及角度等各方面进行了分析,使其在各种产品的光学检测的光源设计中都具有一定的意义。

AOI检测仪在PCB电路板的检测与改进措施

高速、高精度视觉处理技术能自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊接缺陷,并可提供在线检测方案,以提高生产效率及焊接质量.介绍通过使用AOI作为减少缺陷的工具,在装配工作的早期进行查找和消除错误,并对AOI光学测试过程中存在的原因进行分析,提出解决的措施.