ARL9900系列荧光分析仪测角仪故障分析与处理

本文介绍了ARL9900系列荧光分析仪在使用过程中出现的测角仪电机故障,对故障原因进行了深入分析,详细介绍了故障处理过程和电机PID参数调节方法,可对类似故障的判断和处理提供借鉴。

ARL9900X荧光压片法测定煤灰中K_(2)O、Na_(2)O等元素

本文主要介绍用ARL9000X荧光压片法测定煤灰中K_(2)0、Na_(2)0、Al_(2)O_(3)、CaO、Fe,03MgO、TiO_(2)等元素,制定样品制备流程,建立工作分析曲线,实验确定仪器工作条件、制样条件,对曲线干扰进行消除校正,元素测定的精密度、准确度均达到分析标准要求。

ARL9900X荧光压片法测定烧结矿中全铁

通过实验论证了样品的制备,对X荧光光谱仪测定烧结矿中全铁的影响因素进行了研究,确定了仪器分析最佳制样、分析条件,经过化学分析法进行实验对比验证,分析数据的准确度、精密度均达到分析要求,成功实现ARL9000X荧光光谱直接压片法测定烧结矿铁元素,能高效、及时的为铁焦事业部提供准确的生产指导数据。

电路板芯片级修复在X射线荧光光谱仪维护中的应用

X射线荧光光谱仪(XRF)在国内的冶金、矿山等行业的实验室有着广泛的应用。以ARL9900系列X射线光谱仪为例,介绍了其XPS电路板上光耦合芯片和XPSI电路板上IGBT芯片损坏故障的故障现象和报警信息,以及如何利用电路原理和电子知识进行电路板上损坏元件的检查和处理。通过这两个典型的电路板芯片级故障处理方法,为实验室精密仪器的芯片级故障修复提供一种思路,帮助企业快速恢复生产,节约备件成本。