期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
TGC信号放大成形甄别板批量检测系统 被引量:2
1
作者 金革 杨涛 +1 位作者 彭承志 虞孝麒 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第2期126-128,共3页
介绍一个为批量检测 ASD板而设计的检测系统 ,详细叙述了检测系统的构成、测试原理以及测试结果。
关键词 检测系统 asd板 增益 信号放大成形甄别 TGC 薄气隙室探测器 批量检测
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部