一种专用集成电路功能测试仪的设计与实现

采用现场可编程门阵列（ＦＰＧＡ）技术设计与实现了一种低成本、高性能的专用集成电路（ＡＳＩＣ）功能测试仪——ＮＰＵＡＳＩＣ测试仪。测试管脚多达１２８路，每路独立可编程，具有多种测试模式，可测试静态和动态芯片，并具备初步的速度测试能力。该测试仪是在ＩＢＭＰＣ及其兼容机上开发的，操作系统为ＤＯＳ；测试环境成熟，提供了与Ｃ兼容的高级测试语言，并可与当前几种广泛使用的电子设计自动化（ＥＤＡ）工具接口。