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模拟电路故障诊断的新方法
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作者 冯大为 《武汉理工大学学报》 CAS CSCD 1989年第A03期369-379,共11页
本文所提出的线性模拟电路故障诊断的新方法是在应用特勒根定理的同时,采用多频率测试信号,使可测端口数 m 与所用不同频率的测试信号数 f 之积,大于同时发生的故障元件数 k,即 fm>k,就可决定故障元件的位置及其参数值。因为f 是可... 本文所提出的线性模拟电路故障诊断的新方法是在应用特勒根定理的同时,采用多频率测试信号,使可测端口数 m 与所用不同频率的测试信号数 f 之积,大于同时发生的故障元件数 k,即 fm>k,就可决定故障元件的位置及其参数值。因为f 是可以任意扩大的,所以本方法原则上可以诊断绝大多数模拟电路的多重故障。 展开更多
关键词 模拟 电路 故障诊断
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