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影响军用三极管芯片剪切强度可靠性的原因浅析 被引量:1
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作者 李兵 谢嘉慧 李慧敏 《山东电子》 1999年第3期34-35,共2页
本文介绍了济南半导体所军用三极管的芯片剪切力的攻关过程及剪切强度的长期可靠性,重分析了影响剪切强度的各种因素。
关键词 剪切强度 残留面积 三极管 芯片 可靠性
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