掺杂K_4Ru(CN)_6的AgBrCl乳剂相对感光度与其光电子寿命的相关性研究

微波吸收介电谱检测技术具有很高的时间分辨率,可用于固体中电子输运特性的无接触测量,是研究晶体中光生载流子寿命及其迁移行为的有效方法.本文利用高时间分辨的微波吸收薄膜介电谱检测装置,测量了掺杂K4Ru(CN)6的AgBrCl乳剂在35ps超短脉冲激光曝光后的光电子衰减的时间分辨谱.对所选取感光乳剂的相对感光度与其光电子寿命的相关性进行了研究.实验结果表明,掺杂K4Ru(CN)6的AgBrCl乳剂的相对感光度与其光电子寿命具有较强的相关性并呈现相同的变化趋势.

立方体AgBrCl硫增感光的电子行为

本文利用微波吸收相敏检测技术 ,同时获得了立方体AgBrCl乳剂中 ,在增感温度增加的条件下 ,自由光电子和浅束缚光电子的时间衰减曲线 ,分析了不同的硫增感产物随增感温度增加所起的陷阱效应。结果表明 ,在立方体AgBrCl乳剂中 ,硫增感初始阶段的增感产物主要是作为浅电子陷阱存在 ;随着增感温度增加至5 5℃时 ,增感产物浅电子陷阱效果最佳 ;如增感温度进一步增加 ,硫增感中心又变为深电子陷阱。文中还讨论了浅电子陷阱中浅束缚光电子衰减时间与阱深的依存关系。