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微带隔离器装配工艺研究
被引量:
1
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作者
李志
《电子机械工程》
2003年第4期39-41,46,共4页
分析装配机械应力导致微带隔离器中铁氧体基片出现裂纹甚至断裂的失效机制,给出微带隔离器与其它电路单元连接的几种低应力接头结构,讨论微带隔离器中AgPd厚膜导体在焊接过程中出现熔蚀现象的原因和对策。
关键词
微带隔离器
装配机械应力
熔蚀
低应力接头
agpd厚膜导体
下载PDF
职称材料
题名
微带隔离器装配工艺研究
被引量:
1
1
作者
李志
机构
南京电子技术研究所
出处
《电子机械工程》
2003年第4期39-41,46,共4页
文摘
分析装配机械应力导致微带隔离器中铁氧体基片出现裂纹甚至断裂的失效机制,给出微带隔离器与其它电路单元连接的几种低应力接头结构,讨论微带隔离器中AgPd厚膜导体在焊接过程中出现熔蚀现象的原因和对策。
关键词
微带隔离器
装配机械应力
熔蚀
低应力接头
agpd厚膜导体
Keywords
Microstrip ferrite isolator
Assembling stress
Leaching effect
分类号
TN627 [电子电信—电路与系统]
TH16 [机械工程—机械制造及自动化]
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作者
出处
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微带隔离器装配工艺研究
李志
《电子机械工程》
2003
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