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Ag_(3)Sn纳米颗粒对焊料金属间化合物形貌和厚度的影响
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作者 李秀 严继康 +4 位作者 王彪 胥佳怡 荣林 李艾珂 杨皓明 《有色金属工程》 CAS 北大核心 2024年第6期26-36,共11页
选用氧化还原法制备Ag_(3)Sn纳米颗粒,以不同质量比(0、0.1%、0.15%、0.2%)添加到SAC305焊料中来探讨Ag_(3)Sn纳米颗粒对焊料显微组织、润湿性和可靠性的影响。采用X-射线衍射仪和扫描电子显微镜对制备的Ag_(3)Sn纳米颗粒进行物相分析... 选用氧化还原法制备Ag_(3)Sn纳米颗粒,以不同质量比(0、0.1%、0.15%、0.2%)添加到SAC305焊料中来探讨Ag_(3)Sn纳米颗粒对焊料显微组织、润湿性和可靠性的影响。采用X-射线衍射仪和扫描电子显微镜对制备的Ag_(3)Sn纳米颗粒进行物相分析和形貌观察,采用金相显微镜观察焊点的显微组织。将焊点在150℃高温时效不同时间后(0、50、100、150、200 h),采用金相显微镜对焊点界面进行观察,并采用Image J软件计算界面金属间化合物(IMC)层的厚度,得到生长系数。结果表明,向SAC305焊料中添加适量的Ag_(3)Sn纳米颗粒可以提高焊料的润湿性;Ag_(3)Sn纳米颗粒可以有效细化SAC305焊料的微观组织并抑制IMC层生长;随着时效时间的延长,Cu6Sn5金属间化合物层由扇贝状向平面状转变,同时出现Cu3Sn金属间化合物层。向SAC305焊料中添加0.15 wt.%的Ag_(3)Sn纳米颗粒可获得最佳综合性能,润湿性最好(铺展面积为167.447 mm2),生长系数最小(0.04),组织细化也较为明显。 展开更多
关键词 ag_(3)sn纳米颗粒 可靠性 润湿性 生长系数
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Sn-xAg无铅焊料中Ag含量对其显微组织、腐蚀行为和与Cu基体界面反应的影响 被引量:15
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作者 Phacharaphon TUNTHAWIROON Kannachai KANLAYASIRI 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第8期1696-1704,共9页
研究不同Ag含量(0、3.0%、3.5%、4.0%和5.0%,质量分数)对预焊Sn-xAg无铅焊料显微组织和腐蚀行为的影响,以及对焊料与铜基体间形成金属间化合物界面层的影响。Ag含量对焊料中Ag3Sn相的形貌有一定的影响。显微组织分析结果表明,在3.0Ag和3... 研究不同Ag含量(0、3.0%、3.5%、4.0%和5.0%,质量分数)对预焊Sn-xAg无铅焊料显微组织和腐蚀行为的影响,以及对焊料与铜基体间形成金属间化合物界面层的影响。Ag含量对焊料中Ag3Sn相的形貌有一定的影响。显微组织分析结果表明,在3.0Ag和3.5Ag焊料中,β-Sn相被共晶组织网络所包围;在4.0Ag和5.0Ag焊料中,形成大的片状Ag3Sn相。但是,动电位极化曲线测试结果显示,Ag含量对铸态焊料腐蚀行为的影响甚微。与铜基体焊接后,在Sn-xAg/Cu界面处仅形成单层的Cu6Sn5金属间化合物。与未掺Ag的焊料相比,掺Ag的焊料与基体的界面中形成的Cu6Sn5金属间化合物层更薄。与4.0Ag和5.0Ag焊料中形成的大片状Ag3Sn相比,在3.0Ag和3.5Ag焊料中析出的共晶网络中细小的Ag3Sn颗粒沉淀,能更有效地抑制Cu6Sn5晶粒的生长。 展开更多
关键词 sn-ag 无铅焊料 显微组织 ag_(3)sn 金属间化合物相 腐蚀行为 Cu_(6)sn_(5) 金属间化合物层 润湿性
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Morphologies and evolution of intermetallic compounds formed between Sn_(1.0)Ag_(0.7)Cu composite solder and Cu substrate
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作者 Yan-Wei Sui Ren Sun +4 位作者 Ji-Qiu Qi Ye-Zeng He Fu-Xiang Wei Qing-Kun Meng Zhi Sun 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第3期1043-1049,共7页
This study investigated the morphologies of the intermetallic compounds(IMC)formed during soldering reaction between Sn_(1.0)Ag_(0.7)Cu-1.0SnO_(2) composite solder and Cu substrate at various temperatures.The prismtyp... This study investigated the morphologies of the intermetallic compounds(IMC)formed during soldering reaction between Sn_(1.0)Ag_(0.7)Cu-1.0SnO_(2) composite solder and Cu substrate at various temperatures.The prismtype Cu_(6)Sn_(5) forms when the soldering temperature is 260or 2800C,while those grains transform from prism type to scallop type at the temperatures of 300 and 320℃.It can be found that the morphologies of Cu6Sn5 grains affect adsorption of Ag_(3)Sn nanoparticles during soldering reaction.The scallop-type grains with a higher growth rate need to adsorb large amounts of Ag_(3)Sn particles.In terms of mechanical behavior,the shear strength of solder joint is improved from 40 to 46 MPa at soldering temperature of 300℃.In addition,the thickness of IMC increases with the extension of aging time.During aging,the morphology of Cu6Sn5 grains remains scallop type,but the number of Ag_(3)Sn nanoparticles is reduced largely.The scallop-type Cu^(6)Sn_(5) can increase in size and flatten in morphology with the aging time increasing. 展开更多
关键词 Composite solder Cugsns ag_(3)sn Adsorption
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Cu_(5)Zn_(8)和Sn/Ag_(3)Sn/Ag扩散阻挡层在Sn/Cu钎焊互连界面反应中的作用
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作者 姚金冶 陈祥序 +3 位作者 李花 马海涛 王云鹏 马浩然 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第2期43-49,共7页
电子器件的微型化对钎焊界面的可靠性提出更高的要求,深入研究钎焊界面金属间化合物(Intermetallic compound,IMC)的形貌演变和生长机制具有重要意义。金属Cu具有优良的导电导热性能,在微电子封装行业中广泛应用为基体材料。在钎焊回流... 电子器件的微型化对钎焊界面的可靠性提出更高的要求,深入研究钎焊界面金属间化合物(Intermetallic compound,IMC)的形貌演变和生长机制具有重要意义。金属Cu具有优良的导电导热性能,在微电子封装行业中广泛应用为基体材料。在钎焊回流过程中,Cu基体与Sn钎料发生界面反应生成IMC,由于IMC具有较高脆性,过度生长的IMC会严重降低焊接接头的可靠性。为了抑制IMC的过度生长,在Cu基体表面分别制备Cu_(5)Zn_(8)扩散阻挡层和Sn/Ag_(3)Sn/Ag扩散阻挡层。研究在不同钎焊工艺下,纯Sn钎料在Cu基板、Cu_(5)Zn_(8)扩散阻挡层/Cu基板、Sn/Ag_(3)Sn/Ag扩散阻挡层/Cu基板上IMC的形貌演变及生长动力学机制,最终试验结果发现Cu_(5)Zn_(8),Sn/Ag_(3)Sn/Ag扩散阻挡层可以抑制Sn/Cu钎焊互连界面反应。 展开更多
关键词 扩散阻挡层 钎焊 sn钎料 Cu_(5)Zn_(8) ag_(3)sn
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