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退火时间对磁控溅射Al/PbTe薄膜结构及性能的影响
1
作者
卢慧粉
曹文田
+2 位作者
王书运
任伟
庄浩
《理化检验(物理分册)》
CAS
2011年第12期760-762,766,共4页
采用RF磁控溅射法制备了Al/PbTe薄膜,并在真空电阻炉中对薄膜进行退火处理,研究了退火时间对Al/PbTe薄膜的表面形貌、物相组成、透射率和电阻率的影响。结果表明:所制备的Al/PbTe薄膜具有明显的〈100〉方向择优取向;随着退火时间的延长...
采用RF磁控溅射法制备了Al/PbTe薄膜,并在真空电阻炉中对薄膜进行退火处理,研究了退火时间对Al/PbTe薄膜的表面形貌、物相组成、透射率和电阻率的影响。结果表明:所制备的Al/PbTe薄膜具有明显的〈100〉方向择优取向;随着退火时间的延长,薄膜的PbTe(200)衍射峰强度明显下降,并且出现了PbTe(111)衍射峰;退火后Al/PbTe薄膜表面出现了花状聚集,且随着退火时间的延长,花状聚集越来越密集和均匀;退火后Al/PbTe薄膜的吸收带向短波方向发生了少许偏移,随着退火时间的延长薄膜的透射率和电阻率都呈现先减小后增大的趋势。
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关键词
al/pbte薄膜
RF磁控溅射
退火时间
透射率
电阻率
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职称材料
题名
退火时间对磁控溅射Al/PbTe薄膜结构及性能的影响
1
作者
卢慧粉
曹文田
王书运
任伟
庄浩
机构
山东师范大学物理与电子科学学院
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2011年第12期760-762,766,共4页
文摘
采用RF磁控溅射法制备了Al/PbTe薄膜,并在真空电阻炉中对薄膜进行退火处理,研究了退火时间对Al/PbTe薄膜的表面形貌、物相组成、透射率和电阻率的影响。结果表明:所制备的Al/PbTe薄膜具有明显的〈100〉方向择优取向;随着退火时间的延长,薄膜的PbTe(200)衍射峰强度明显下降,并且出现了PbTe(111)衍射峰;退火后Al/PbTe薄膜表面出现了花状聚集,且随着退火时间的延长,花状聚集越来越密集和均匀;退火后Al/PbTe薄膜的吸收带向短波方向发生了少许偏移,随着退火时间的延长薄膜的透射率和电阻率都呈现先减小后增大的趋势。
关键词
al/pbte薄膜
RF磁控溅射
退火时间
透射率
电阻率
Keywords
A1
/pbte
thin film
RF magnetron sputtering
anne
al
ing time
transmissivity
resistivity
分类号
TM23 [一般工业技术—材料科学与工程]
TB43 [一般工业技术]
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题名
作者
出处
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1
退火时间对磁控溅射Al/PbTe薄膜结构及性能的影响
卢慧粉
曹文田
王书运
任伟
庄浩
《理化检验(物理分册)》
CAS
2011
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