利用透射电子显微镜、X射线衍射分析和穆斯堡尔谱分析技术研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶薄带在疲劳过程中微结构变化 ,结果发现 :固溶元素自α Al晶内析出产生偏聚体 ,同时 ,X射线衍射谱出现一个额外的衍射峰。穆斯堡尔谱分析表明 :X...利用透射电子显微镜、X射线衍射分析和穆斯堡尔谱分析技术研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶薄带在疲劳过程中微结构变化 ,结果发现 :固溶元素自α Al晶内析出产生偏聚体 ,同时 ,X射线衍射谱出现一个额外的衍射峰。穆斯堡尔谱分析表明 :X射线衍射谱中额外的衍射峰是由于疲劳过程中析出相 (Al8Fe4 Nd1 相 )展开更多
采用透射电镜和X射线研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶合金薄带在超短电脉冲过程中 ,其内部微结构变化 ,并与等温退火处理结果相比较·结果表明 :超短电脉冲处理试样的相转变温度降低了 10 0℃ ,并且相转变后的第二相颗粒尺寸减小很多...采用透射电镜和X射线研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶合金薄带在超短电脉冲过程中 ,其内部微结构变化 ,并与等温退火处理结果相比较·结果表明 :超短电脉冲处理试样的相转变温度降低了 10 0℃ ,并且相转变后的第二相颗粒尺寸减小很多·这与非晶合金经超短电脉冲处理后晶化温度降低及晶粒细化的现象相一致·展开更多
文摘利用透射电子显微镜、X射线衍射分析和穆斯堡尔谱分析技术研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶薄带在疲劳过程中微结构变化 ,结果发现 :固溶元素自α Al晶内析出产生偏聚体 ,同时 ,X射线衍射谱出现一个额外的衍射峰。穆斯堡尔谱分析表明 :X射线衍射谱中额外的衍射峰是由于疲劳过程中析出相 (Al8Fe4 Nd1 相 )
文摘采用透射电镜和X射线研究了快凝Al Fe V Si Nd纳米晶合金薄带在超短电脉冲过程中 ,其内部微结构变化 ,并与等温退火处理结果相比较·结果表明 :超短电脉冲处理试样的相转变温度降低了 10 0℃ ,并且相转变后的第二相颗粒尺寸减小很多·这与非晶合金经超短电脉冲处理后晶化温度降低及晶粒细化的现象相一致·