用于提高ADC性能的自适应Dither结构

针对流水线型ADC(模数转换器)中加入Dither噪声后可能导致输入信号溢出问题,提出一种自适应Dither结构。该结构采用PN(伪随机码)作为宽带大幅度的Dither,通过自适应的方式在不影响输入信号动态范围的前提下将模拟信号随机化,减小ADC的DNL(微分非线性)误差,提高ADC的动态性能。实验结果对比了加入该Dither前后的输出码字分布以及不同幅度Dither加入后对ADC性能的影响结果。

模拟/数字转换器的动态性能参数处理

文章介绍了一种针对模拟/数字转换器(ADC)的动态性能参数设计的灵活易用的分析程序。该程序基于使用FFT算法的谱分析测试方法,并通过设计一个交互性能良好、功能丰富的用户图形界面(GUI),使用户可以方便地分析4～20位分辨率的ADC的量化结果,并给出多种动态性能参数的分析值,便于设计者和使用者评估ADC的性能。

基于输出迭代法的A/D转换器测试数据分析

介绍了一种将模拟/数字转换器(ADC)的采样输出按照正弦输入信号的周期进行迭代的数据处理方法,可以评估输入噪声和时钟抖动对动态性能测试结果的影响。同时,通过分析迭代后的信号波形,可以发现高频输入信号在ADC转换过程中存在的畸变、非单调、失码、跳码、失真等现象,而这些现象很难从输出数据中直接观察到。这种分析对ADC的设计具有重要的指导意义。实验结果表明,这种方法是实用有效的。

高精度数据采集模块设计及CCSLink性能测试

从器件选择和电路设计两方面,设计了无线电导航接收机的高速数据采集模块,并利用集成在MATLAB中的CCSLink工具和作者开发的接收机板上的FPGA和DSP,设计了基于FPGA和DSP的测试软件,对ADC进行了可编程、数字化的性能测试。

高速D/A转换器动态测试及分析

Ｄ／Ａ转换器的动态特性是随时间迅速变化的物理量。讨论了Ｄ／Ａ转换器动态特性的测试概念、原理和方法，着重阐述了Ｄ／Ａ转换器的更新速率、稳定时间、毛刺、真信号动态范围的概念，详细分析了其测试原理，探讨了稳定时间测试电路，并提出了简便而有效的测试方法。

12 bit 30 MSPS逐次比较型ADC的测试

针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试。在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内ADC有效位(Effective Number Of Bit,ENOB)约为9 bit,达到了本版本芯片的设计指标。同时,综合分析静态性能与动态性能测试结果,可以通过优化逐次比较型ADC中电容阵列电容失配参数,进一步提升ADC的非线性指标,为下一版芯片的改进设计提供了参考依据。

10 bit 20 MSPS流水线型ADC芯片测试

针对塑料闪烁体阵列探测器(Plastic Scintillation Detector,PSD)低功耗、数字化的读出需求,研制了一款多通道10 bit 20 MSPS流水线型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片。为了评估该ADC芯片的性能参数,需要对其进行系统化的测试。首先研制了一套测试系统,包括电路的硬件设计、FPGA固件和分析程序的设计,然后依据IEEE标准对ADC芯片进行了系统化的测试与分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内,ADC芯片测试参数达到了预期指标,有效位数(Effective Number of Bit,ENOB)接近于8.0 bit,积分非线性(INL)=0.75LSB,微分非线性(DNL)=1.09LSB,为后续ADC芯片的优化设计和参数提升提供了有力的支持。