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Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低原因分析
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作者 胡立业 何洪涛 杨志 《电子工艺技术》 2023年第5期46-50,共5页
分析了某MEMS器件Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低的原因,发现该问题主要由“金脆”现象引起。结合实践经验和相关文献,总结了“金脆”现象发生的一般规律,制定了一个可以避免该现象发生的工艺方案,并开展了针对性的验证试验。试验结果表... 分析了某MEMS器件Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低的原因,发现该问题主要由“金脆”现象引起。结合实践经验和相关文献,总结了“金脆”现象发生的一般规律,制定了一个可以避免该现象发生的工艺方案,并开展了针对性的验证试验。试验结果表明,通过优化键合焊料系统的组分配比可以避免“金脆”现象的发生,同时也证实了这一措施是可行有效的。 展开更多
关键词 sn-Cu-au低温圆片 键合 金脆 金属间化合物 锡基焊料 键合强度 剪切强度 剪切力
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Study on Steel-Mushy Al-20Sn Alloy Bonding 被引量:7
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作者 Peng ZHANG, Yunhui DU and Daben ZENG Department of Mechanical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China Jianzhong CUI Metal Forming Department, NEU, Shenyang 110006, China Limin BA Anshan Automobile Fittings Factory, Anshan 114014, China 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2001年第2期224-228,共5页
Steel-mushy Al-20Sn alloy bonding was studied for the first time. The relationship model about preheat temperature of steel plate, solid fraction of Al-20Sn alloy mushy, rolling speed and interfacial shear strength of... Steel-mushy Al-20Sn alloy bonding was studied for the first time. The relationship model about preheat temperature of steel plate, solid fraction of Al-20Sn alloy mushy, rolling speed and interfacial shear strength of bonding plate could be established by artificial neural networks perfectly. This model could be optimized with a genetic algorithm. The optimum bonding parameters were: 505 degreesC for preheat temperature of steel plate, 34.3% for solid fraction of Al-20Sn alloy mushy and 10 mm/s for rolling speed, and the largest interfacial shear strength of bonding plate was 71.2 MPa. 展开更多
关键词 AL sn Study on Steel-Mushy Al-20sn Alloy bonding
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Effect of transient current bonding on interfacial reaction in Ag-coated graphene Sn-Ag-Cu composite solder joints 被引量:6
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作者 Yong-dian HAN Jia-hang YANG +2 位作者 Lian-yong XU Hong-yang JING Lei ZHAO 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2021年第8期2454-2467,共14页
To address the problem of floating and aggregation of Ag-GNSs in the molten pool during the traditional reflow soldering process,Cu/SAC/Ag-GNSs/Cu sandwich joints were prepared under an applied current density(1.0... To address the problem of floating and aggregation of Ag-GNSs in the molten pool during the traditional reflow soldering process,Cu/SAC/Ag-GNSs/Cu sandwich joints were prepared under an applied current density(1.0×10^(4) A/cm^(2))for a few hundred milliseconds to produce Ag-coated graphene-reinforced Sn-Ag-Cu(SAC/AgGNSs)solder joints.The experimental results showed that Ag-GNSs were homogenously dispersed in the solder joints,providing more Cu6 Sn5 grain nucleation sites,which refined these grains and reduced the thickness difference at the anode and cathode.In addition,the Cu6 Sn5 morphology changed from rod-like to plate-shaped because of the uniform distribution of Ag-GNSs and constitutional supercooling.The significantly increased shear strength of the transient current bonding and the change in the fracture mechanism were due to the uniformly distributed Ag-GNSs and the microstructural changes. 展开更多
关键词 transient current bonding Ag-GNS Cu6sn5 shear strength
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基于Au/In键合的静电扭转微镜的设计与工艺研究
4
作者 王俊铎 胡钰玮 +3 位作者 吴永强 单亚蒙 钱磊 沈文江 《固体电子学研究与进展》 CAS 2024年第3期252-257,共6页
采用Au/In键合技术并引入凸点层设计,制备了用于光通信领域的二维平行板式静电扭转微镜阵列。相较于其他键合技术,Au/In键合实现了低温键合并与硅通孔技术相容。此外,相对于梳齿驱动,采用平行板电容的扭转微镜有助于实现更高的占空比,... 采用Au/In键合技术并引入凸点层设计,制备了用于光通信领域的二维平行板式静电扭转微镜阵列。相较于其他键合技术,Au/In键合实现了低温键合并与硅通孔技术相容。此外,相对于梳齿驱动,采用平行板电容的扭转微镜有助于实现更高的占空比,便于阵列制造。凸点层的设计提升了键合强度,平均键合强度达8.97 MPa。微镜的实测结果与有限元仿真基本一致,内、外轴分别在13.7 V和18.2 V的直流电压下实现了0.7°的机械转角。 展开更多
关键词 微镜 au/In键合 平行板静电驱动 微机电系统
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长期探寻的Au_(23)(S-Adm)_(16)结构及未曾预期的掺杂效应
5
作者 冯磊 朱泽敏 +5 位作者 杨颖 何宗兵 邹家丰 李漫波 赵燕 伍志鲲 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2024年第5期1-2,共2页
一锅同时获得单个金属原子掺杂的纳米团簇与母体团簇富有挑战性。这样的合成可排除微量杂质的影响,使得掺杂和未掺杂纳米团簇的性质对比更加合理可靠。在此,我们首次实现了这种合成,得到了长期追寻的纳米团簇Au_(23)(SAdm)_(16)和其单... 一锅同时获得单个金属原子掺杂的纳米团簇与母体团簇富有挑战性。这样的合成可排除微量杂质的影响,使得掺杂和未掺杂纳米团簇的性质对比更加合理可靠。在此,我们首次实现了这种合成,得到了长期追寻的纳米团簇Au_(23)(SAdm)_(16)和其单镉掺杂的Au_(22)Cd_1(S-Adm)_(16)纳米团簇,并通过单晶X射线晶体学解析了其结构。令人惊讶的是,与以前的报道结果相反,Au_(23)(S-Adm)_(16)比Au_(22)Cd_1(S-Adm)_(16)更稳定。另一方面,由于掺入镉原子后,内核Au―Au键长度增加,光激发电子转移阻力增加,导致Au_(22)Cd_1(S-Adm)_(16)吸收和发射强度明显下降。因而,不仅团簇的稳定性,而且团簇的吸收和发射强度也与内核Au―Au键的长度关联。这项工作表明了两种团簇结构上的微小差异就可导致光学、热稳定性等方面的显著区别,也为研究金属纳米团簇的构效关系提供了良好的借鉴。 展开更多
关键词 金属纳米团簇 合成 auau键长 性质 构效关系
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Au-Al键合界面金属间化合物对可靠性影响的研究
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作者 张健健 吴超 陶少杰 《中国集成电路》 2024年第6期82-89,共8页
引线键合工艺是半导体封装过程中十分重要的一道工序,键合质量的提高基于键合可靠性的提升,而键合界面对键合的可靠性,乃至对电子元器件的服役性能和使用寿命都有着极大的影响。但是,在键合完成初期,由于会形成少量的金属间化合物(IMC)... 引线键合工艺是半导体封装过程中十分重要的一道工序,键合质量的提高基于键合可靠性的提升,而键合界面对键合的可靠性,乃至对电子元器件的服役性能和使用寿命都有着极大的影响。但是,在键合完成初期,由于会形成少量的金属间化合物(IMC)。而且,随着时间的增加和温度的升高,金属间化合物会增加。金属间化合物过多时易导致键合强度降低、变脆,以及接触电阻变大等问题,应该看到,脆性的金属间化合物会使键合点在受周期性应力作用时引发疲劳破坏,最终可导致器件开路或器件的电性能退化。其中,金属间化合物的形成和可肯达尔(Kirkendall)空洞是金铝(Au-Al)键合失效的主要失效机理。本文结合充分的实验测试数据及相关文献,综述键合界面上金属间化合物的形成以及演变机理,并且从不同种类的金线、芯片焊盘的铝层厚度、不同焊线的模式、不同类型的封装树脂,四个方面探讨键合界面金属间化合物对可靠性的影响。 展开更多
关键词 au-Al键合界面 金属间化合物 Kirkendall空洞 高温储存实验 键合模式
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Au80Sn20合金焊料的制备及应用研究进展 被引量:15
7
作者 刘文胜 黄宇峰 马运柱 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第11期1-6,共6页
含有80%金和20%锡(质量分数)的Au80Sn20合金焊料因其高熔点及免助焊剂等性能而被广泛应用于光电子封装和微电子封装领域。综述了Au80Sn20合金焊料的性能,分析了金锡叠层法、熔铸法、电镀沉积法和机械合金化法制备Au80Sn20合金焊料的工... 含有80%金和20%锡(质量分数)的Au80Sn20合金焊料因其高熔点及免助焊剂等性能而被广泛应用于光电子封装和微电子封装领域。综述了Au80Sn20合金焊料的性能,分析了金锡叠层法、熔铸法、电镀沉积法和机械合金化法制备Au80Sn20合金焊料的工艺原理和特点,介绍了Au80Sn20合金焊料在气密封盖、管壳焊接及芯片封装等领域的焊接技术和应用情况,最后指出了Au80Sn20合金焊料的研究方向和应用前景。 展开更多
关键词 au80sn20合金焊料 微电子封装 光电子封装 界面反应 制备技术
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纳米压痕法测量80Au/20Sn焊料热力性能 被引量:6
8
作者 张国尚 荆洪阳 +2 位作者 徐连勇 魏军 韩永典 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第9期53-56,共4页
采用恒加载速率/载荷纳米压痕试验测量了25,75,125及200℃下80Au/20Sn焊料的热力性能.结果表明,加载速率、施加载荷和温度对压痕载荷位移曲线影响显著;80Au/20Sn焊料具有较强的加载速率敏感性,显著的尺寸效应,125和200℃下出现了明显的&... 采用恒加载速率/载荷纳米压痕试验测量了25,75,125及200℃下80Au/20Sn焊料的热力性能.结果表明,加载速率、施加载荷和温度对压痕载荷位移曲线影响显著;80Au/20Sn焊料具有较强的加载速率敏感性,显著的尺寸效应,125和200℃下出现了明显的"挤出"现象;应用半椭圆模型对产生"挤出"的接触面积修正后基于Oliver-Pharr方法求得了弹性模量和硬度;弹性模量和硬度随加载速率的增加迅速增大后趋于稳定,随施加载荷增加先减小后几乎保持不变,随温度升高而急聚降低. 展开更多
关键词 80au/20sn焊料 纳米压痕 热力性能
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Au80Sn20合金焊料制备工艺 被引量:5
9
作者 王昭 吕文强 +1 位作者 高松信 武德勇 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第9期2089-2093,共5页
针对高功率二极管激光器的封装要求,通过磁控溅射的方法制备了Au80Sn20合金焊料,使用扫描电子显微镜(SEM)观察其微结构和表面形貌;利用能谱仪(EDX)和X射线荧光测试仪分析其成分;采用差热分析法(DTA)测试其熔化温度,并用制备的Au80Sn20... 针对高功率二极管激光器的封装要求,通过磁控溅射的方法制备了Au80Sn20合金焊料,使用扫描电子显微镜(SEM)观察其微结构和表面形貌;利用能谱仪(EDX)和X射线荧光测试仪分析其成分;采用差热分析法(DTA)测试其熔化温度,并用制备的Au80Sn20合金焊料进行了可焊性实验。结果表明:磁控溅射法可以制备Au80Sn20合金焊料,其制备的Au80Sn20合金焊料表面无明显缺陷,结构致密;成分与理论值接近;熔点与理论熔点接近;焊接浸润性好,空洞率小,强度大。 展开更多
关键词 au80sn20合金焊料 高功率二极管激光器 磁控溅射 合金靶
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电镀Au-Sn合金的研究 被引量:8
10
作者 张静 徐会武 +2 位作者 李学颜 苏明敏 陈国鹰 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第11期1066-1069,共4页
Au-Sn(质量分数为20%)共晶焊料有着优良的导热和导电特性,已被广泛应用在光电子和微电子的器件封装工业中。对微氰和无氰电镀Au-Sn合金的两种电镀方法进行了研究,概述了镀液组分和电镀工艺条件,用扫描电镜的方法测试不同电流密度下Au-S... Au-Sn(质量分数为20%)共晶焊料有着优良的导热和导电特性,已被广泛应用在光电子和微电子的器件封装工业中。对微氰和无氰电镀Au-Sn合金的两种电镀方法进行了研究,概述了镀液组分和电镀工艺条件,用扫描电镜的方法测试不同电流密度下Au-Sn合金组分,用测厚仪测试镀层厚度,计算出镀速,最终确定电镀Au-Sn(质量分数为20%)合金的电镀条件,并对微氰和无氰电镀液优缺点进行了对比分析。 展开更多
关键词 金锡合金 微氰 无氰 电镀 电流密度 扫描电镜
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Au80Sn20无铅钎料的可靠性研究 被引量:10
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作者 范琳霞 荆洪阳 徐连勇 《电焊机》 2006年第11期14-19,共6页
随着电子产品小型化、无铅化的发展,对焊接材料提出了更高的要求。无铅钎料Au80Sn20由于具有优良的力学性能,在高可靠性气密封装和芯片焊接中被广泛应用。综述了近几年来Au80Sn20的发展状况,重点介绍了该焊料的可靠性研究。
关键词 无铅钎料 au80sn20 可靠性 力学性能
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用于大功率半导体激光器封装的Au-Sn合金焊料的制备和特性研究 被引量:6
12
作者 黄波 陈金强 +4 位作者 杨凯 孙亮 宋国才 高欣 薄报学 《长春理工大学学报(自然科学版)》 2007年第3期1-4,共4页
介绍了具有极好热特性、电特性和机械特性以及相对低的熔化温度的Au(80wt.%-Sn(20wt.%)共熔合金焊料的制备方法和过程,研究了用于焊接大功率半导体激光器的Au-Sn合金的特性,并探讨了获得可靠焊接应注意的问题。
关键词 au-sn合金焊料 大功率半导体激光器 共熔合金 焊接
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Au/Sn与p-HgCdTe的欧姆接触 被引量:3
13
作者 胡晓宁 赵军 +1 位作者 龚海梅 方家熊 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期397-400,共4页
研究了双层金属结构Au/Sn与p-HgCdTe上的接触电阻.实验测得Au/Sn与p-Hg1-xCdxTe(x=0.217,0.41)的比接触电阻ρc(295K、77K)为10-2~104Ωcm2.将这种电极接触应用于... 研究了双层金属结构Au/Sn与p-HgCdTe上的接触电阻.实验测得Au/Sn与p-Hg1-xCdxTe(x=0.217,0.41)的比接触电阻ρc(295K、77K)为10-2~104Ωcm2.将这种电极接触应用于Hg1-xCdxTe(x=0.23)光伏器件,测得pn结I-V特性的正向斜率为12.6Ω,即电极接触电阻小于12. 展开更多
关键词 欧姆接触 碲镉汞 比接触电阻 金/锡结构
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回流次数对Au80Sn20/Cu焊点显微组织及剪切性能的影响 被引量:3
14
作者 刘文胜 汤娅 +1 位作者 马运柱 黄宇峰 《粉末冶金材料科学与工程》 EI 北大核心 2016年第2期303-310,共8页
采用回流焊接技术制备Au80Sn20/Cu焊点,研究其显微组织和剪切强度随回流焊接工艺参数之间的演变规律。结果表明:在焊接温度为310℃时,焊点界面处形成的(Au,Cu)5Sn金属间化合物(IMC)层随回流次数增加而增厚;IMC形貌由层状转变为扇贝状,... 采用回流焊接技术制备Au80Sn20/Cu焊点,研究其显微组织和剪切强度随回流焊接工艺参数之间的演变规律。结果表明:在焊接温度为310℃时,焊点界面处形成的(Au,Cu)5Sn金属间化合物(IMC)层随回流次数增加而增厚;IMC形貌由层状转变为扇贝状,最后成长为胞状;焊点剪切强度随回流次数增加而下降,回流1次后剪切强度为82.94 MPa,回流20次后下降至54.33 MPa;且回流焊接次数对焊点断口形貌和断裂方式造成影响:1次回流后在Cu/IMC界面发生韧性断裂;而3次和5次回流后断裂面分别出现在焊料中和IMC中,为韧性脆性混合断裂;回流次数超过10次后焊点发生脆性断裂。 展开更多
关键词 au80sn20焊料 回流焊 剪切性能 金属间化合物 断裂
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钎焊工艺对Au-Sn/Ni焊点组织及力学性能的影响 被引量:2
15
作者 韦小凤 朱学卫 +2 位作者 杨福增 杨有刚 王日初 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第22期84-91,共8页
通过回流焊技术制备Au-Sn/Ni焊点,通过扫描电子显微镜和能谱检测分析钎焊接头的微观组织及其相组成,利用疲劳试验机对焊点的剪切强度进行检测,研究不同钎焊工艺对Au-Sn/Ni焊点组织和力学性能的影响。结果表明,在310℃钎焊1 min的Au-Sn/N... 通过回流焊技术制备Au-Sn/Ni焊点,通过扫描电子显微镜和能谱检测分析钎焊接头的微观组织及其相组成,利用疲劳试验机对焊点的剪切强度进行检测,研究不同钎焊工艺对Au-Sn/Ni焊点组织和力学性能的影响。结果表明,在310℃钎焊1 min的Au-Sn/Ni焊点经过水冷或空冷后,焊料内部均形成镶嵌有离散分布的(Ni,Au)_3Sn_2相的(Au5Sn+Au Sn)共晶组织,焊料/Ni界面处形成(Ni,Au)_3Sn_2金属间化合物(intermetallic compound,IMC)层;钎焊后炉冷的焊点,由于冷却速度过慢,导致焊料中Ni质量分数增大,(Ni,Au)_3Sn_2相异常长大消耗共晶组织中的(Au,Ni)Sn相,焊料共晶组织消失。随着钎焊时间的延长,基板中的Ni原子不断往焊料扩散,界面处的IMC层厚度均有不同程度的增加。随钎焊时间延长焊点的剪切强度逐渐下降,而剪切断裂模式为脆性断裂,发生在焊料与金属间化合物层的界面处。Au-Sn/Ni焊点在310℃下钎焊1 min,并采用水冷方式时得到的力学性能最佳。 展开更多
关键词 au-sn/Ni焊点 界面反应 IMC层 剪切强度
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Au-Pt-Sn异丁烷脱氢催化剂的制备 被引量:5
16
作者 刘丽花 房德仁 +2 位作者 任万忠 秦玉武 薛建成 《工业催化》 CAS 2014年第4期293-296,共4页
以异丁烷为原料制取异丁烯是解决异丁烯稀缺和异丁烷浪费的双赢方法,异丁烷脱氢主要问题是催化剂的研发。国内外大量研究以Pt-Sn为活性组分,但仍然存在转化率偏低和容易失活等问题,而负载型纳米Au催化剂在低温时对CO氧化表现出很高的催... 以异丁烷为原料制取异丁烯是解决异丁烯稀缺和异丁烷浪费的双赢方法,异丁烷脱氢主要问题是催化剂的研发。国内外大量研究以Pt-Sn为活性组分,但仍然存在转化率偏低和容易失活等问题,而负载型纳米Au催化剂在低温时对CO氧化表现出很高的催化活性。在原有Pt-Sn催化剂基础上,加入Au,采用等体积浸渍法制备Au-Pt-Sn催化剂,比较Au对异丁烷脱氢催化剂转化率和选择性的影响,使用小型固定床不锈钢反应器,常压、温度600℃、空速2 400 h-1和临氢条件下评价其性能。发现加入一定量Au后,增强了催化剂活性,n(Au)∶n(Pt)=1.0时,异丁烯收率大于40%。考察催化剂再生前后效果差异,发现经过再生后,异丁烷转化率和选择性略低有下降,表明催化剂可以再生利用。 展开更多
关键词 催化化学 异丁烯 au-Pt-sn催化剂 异丁烷脱氢 催化剂再生
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高功率二极管激光器Au80Sn20焊料焊接实验研究 被引量:1
17
作者 王昭 吕文强 +2 位作者 谭昊 高松信 武德勇 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2015年第7期757-760,共4页
半导体激光器封装工艺过程对于激光器的输出特性、寿命等性能有重要影响,其中焊料的选择和焊接工艺是最关键的因素。本文采用磁控溅射的方法,在WCu热沉上制备了Au80Sn20合金焊料,取代了传统的In焊料,并对焊接工艺进行了改进。国外沉积... 半导体激光器封装工艺过程对于激光器的输出特性、寿命等性能有重要影响,其中焊料的选择和焊接工艺是最关键的因素。本文采用磁控溅射的方法,在WCu热沉上制备了Au80Sn20合金焊料,取代了传统的In焊料,并对焊接工艺进行了改进。国外沉积的和我们制备的Au80Sn20合金焊料焊接DL芯片后的性能参数很接近。充分说明双靶分层溅射镀膜可以实现二极管激光器的封装要求,从而为优化半导体激光器制备工艺和提高半导体激光器的性能奠定基础。 展开更多
关键词 au80sn20合金焊料 高功率二极管激光器 焊接 磁控溅射
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Au-Pt-Sn体系相图及相关热力学参数的研究进展 被引量:1
18
作者 胡洁琼 谢明 +5 位作者 张吉明 杨有才 刘满门 王松 王塞北 李爱坤 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2016年第4期656-660,666,共6页
较为系统地介绍了Au-Pt-Sn系中二元及三元合金的相图及相关热力学参数的研究进展,包括相图分析、合金相结构以及生成焓、结合能、吉布斯自由能等热力学参数,同时介绍了该系合金体系在钎焊和化学催化产业中的应用,并提出了扩大该系合金... 较为系统地介绍了Au-Pt-Sn系中二元及三元合金的相图及相关热力学参数的研究进展,包括相图分析、合金相结构以及生成焓、结合能、吉布斯自由能等热力学参数,同时介绍了该系合金体系在钎焊和化学催化产业中的应用,并提出了扩大该系合金应用值得重视的一些问题。 展开更多
关键词 au-Pt-sn体系 相图 热力学参数 钎焊材料 催化材料
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电子封装中Au80Sn20焊料与镀层之间的相互作用及组织演变 被引量:10
19
作者 吴娜 李孝轩 胡永芳 《电子机械工程》 2015年第4期32-36,共5页
电子元器件常通过镀层提高可焊性,主要包括Au、Ni、Cu、Au/Ni(Ti)、Au/Pt/Ti、Au/TiW等。Au80Sn20焊料是电子封装中的常用材料,文中总结了AuSn焊料与镀层之间的相互作用及组织演变。润湿性主要取决于AuSn焊料表面的氧化以及镀层在AuSn... 电子元器件常通过镀层提高可焊性,主要包括Au、Ni、Cu、Au/Ni(Ti)、Au/Pt/Ti、Au/TiW等。Au80Sn20焊料是电子封装中的常用材料,文中总结了AuSn焊料与镀层之间的相互作用及组织演变。润湿性主要取决于AuSn焊料表面的氧化以及镀层在AuSn焊料中的溶解速度,Cu、Pt的原子结构与Au相似,以置换原子的形式溶解在AuSn焊料中,Ti与AuSn焊料之间的润湿性较差。AuSn焊料与镀层发生界面反应生成(Ni,Au)3Sn2、ζ-(Au,Cu)5Sn、Au5Sn、Ni3Sn4等金属间化合物(IMC),IMC的形成和组织演变与焊点结构、工艺参数、服役条件等因素有关。 展开更多
关键词 au80sn20 镀层 界面反应 金属间化合物
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Au-Pt-Sn体系热力学参数及相图研究现状与展望
20
作者 胡洁琼 谢明 +5 位作者 张吉明 杨有才 刘满门 王松 王塞北 李爱坤 《材料导报(纳米与新材料专辑)》 EI CAS 2016年第1期279-282,共4页
较为系统地介绍了Au-Pt-Sn系中二元及三元合金的相图及相关热力学参数研究进展,包括相图分析、合金相结构以及生成焓、结合能、吉布斯自由能等热力学参数,同时介绍了该系合金体系在钎焊和化学催化产业中的应用,并提出了扩大该系合金应... 较为系统地介绍了Au-Pt-Sn系中二元及三元合金的相图及相关热力学参数研究进展,包括相图分析、合金相结构以及生成焓、结合能、吉布斯自由能等热力学参数,同时介绍了该系合金体系在钎焊和化学催化产业中的应用,并提出了扩大该系合金应用值得重视的一些问题。 展开更多
关键词 au-Pt-sn体系 热力学参数 相图 钎焊材料 催化材料
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