电场对Au-Ag薄膜结构影响的AFM和VAXPS研究

利用原子力显微镜（ＡＦＭ）和变角Ｘ射线光电子谱（ＶＡＸＰＳ）技术研究了Ａｕ－Ａｇ／ＳｉＯ２体系在直流电场作用下，Ａｕ、Ａｇ电迁移的特点及所引起的薄膜结构的变化。观察到较低温度下Ａｕ、Ａｇ聚集状态的显著变化。发现电迁移过程中Ａｕ－Ａｇ薄膜与ＳｉＯ２基底之间存在界面化学反应，膜层中Ａｕ、Ａｇ、Ｓｉ等元素的化学状态发生了相应的变化。这些结果表明ＳｉＯ２表面上Ａｕ－Ａｇ复合薄膜电迁移不只是一个水平方向的扩散，而是一个复杂的物理化学过程。在此基础上提出了电场作用下Ａｕ－Ａｇ薄膜迁移扩散反应机制。