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全自动上芯机的晶片检测系统
被引量:
3
1
作者
廖广军
胡跃明
+1 位作者
戚其丰
张浩
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006年第4期102-104,共3页
全自动上芯机是用于芯片生产后工序的关键设备之一,IC检测系统是其核心技术。晶片检测系统主要构件包括光源,CCD,图像采集卡等硬件设施,以及专用的芯片处理检测算法。文章详细介绍了基于图像处理的晶片专用检测系统的搭建,分析了图像检...
全自动上芯机是用于芯片生产后工序的关键设备之一,IC检测系统是其核心技术。晶片检测系统主要构件包括光源,CCD,图像采集卡等硬件设施,以及专用的芯片处理检测算法。文章详细介绍了基于图像处理的晶片专用检测系统的搭建,分析了图像检测要求,提出了相应的检测算法。系统地完成图像采集、图像预处理、芯片定位、芯片检测等多个功能。
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关键词
全自动上芯机
图像预处理
晶片检测
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职称材料
题名
全自动上芯机的晶片检测系统
被引量:
3
1
作者
廖广军
胡跃明
戚其丰
张浩
机构
华南理工大学自动化科学与工程学院
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006年第4期102-104,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(编号:60374016)
广东省重大装备创新技术招标项目(编号:0612A2003040/6)
+2 种基金
广东省粤港关键领域重点突破项目(编号:20041A01)
广东省科技厅重大科技攻关专项(编号:2004A10403001)
广州市重点科技攻关计划项目(编号:2003Z2-D9011)
文摘
全自动上芯机是用于芯片生产后工序的关键设备之一,IC检测系统是其核心技术。晶片检测系统主要构件包括光源,CCD,图像采集卡等硬件设施,以及专用的芯片处理检测算法。文章详细介绍了基于图像处理的晶片专用检测系统的搭建,分析了图像检测要求,提出了相应的检测算法。系统地完成图像采集、图像预处理、芯片定位、芯片检测等多个功能。
关键词
全自动上芯机
图像预处理
晶片检测
Keywords
automatic die bonding machine
,
image preprocessing
,
wafer quality detection
分类号
TP39 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
全自动上芯机的晶片检测系统
廖广军
胡跃明
戚其丰
张浩
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006
3
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