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利用MFM研究薄膜厚度对Co_(60)Fe_(20)B_(20)薄膜磁畴结构的影响
被引量:
1
1
作者
沈博侃
王志红
+1 位作者
钟智勇
曾慧中
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第3期200-203,共4页
本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm^400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜...
本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm^400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜厚度增大而升高。当薄膜厚度小于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而增大;当薄膜厚度大于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而减小;厚度在20nm附近时,畴壁尺寸达到一个最小值。
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关键词
磁畴
Co60Fe
20
b20软磁薄膜
薄膜
厚度
垂直各向异性
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职称材料
题名
利用MFM研究薄膜厚度对Co_(60)Fe_(20)B_(20)薄膜磁畴结构的影响
被引量:
1
1
作者
沈博侃
王志红
钟智勇
曾慧中
机构
电子科技大学微电子与固体电子学院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第3期200-203,共4页
文摘
本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm^400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜厚度增大而升高。当薄膜厚度小于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而增大;当薄膜厚度大于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而减小;厚度在20nm附近时,畴壁尺寸达到一个最小值。
关键词
磁畴
Co60Fe
20
b20软磁薄膜
薄膜
厚度
垂直各向异性
Keywords
magnetic domain
Co60 Fe
20
b
20
soft magnetic thin film
film thickness
perpendicular anisotropy
分类号
TB383.2 [一般工业技术—材料科学与工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
利用MFM研究薄膜厚度对Co_(60)Fe_(20)B_(20)薄膜磁畴结构的影响
沈博侃
王志红
钟智勇
曾慧中
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006
1
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