期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现
被引量:
7
1
作者
蒋常斌
生晓坤
+1 位作者
李杰
宋泽明
《电子测试》
2013年第4S期8-9,26,共3页
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
关键词
ATE
ARM
CORTEX-M3
IC测试
bc319
2
下载PDF
职称材料
题名
ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现
被引量:
7
1
作者
蒋常斌
生晓坤
李杰
宋泽明
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《电子测试》
2013年第4S期8-9,26,共3页
文摘
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
关键词
ATE
ARM
CORTEX-M3
IC测试
bc319
2
Keywords
ATE
ARM
Cortex-M3
IC Test
bc319
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现
蒋常斌
生晓坤
李杰
宋泽明
《电子测试》
2013
7
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部