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ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现 被引量:7
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作者 蒋常斌 生晓坤 +1 位作者 李杰 宋泽明 《电子测试》 2013年第4S期8-9,26,共3页
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
关键词 ATE ARM CORTEX-M3 IC测试 bc3192
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