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BF_2^+注入对PMOS晶体管开启电压的影响
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作者 黄维柱 王勇 邱晓海 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2001年第3期46-49,共4页
文章研究了BF_2~+注入对 PMOS晶体管开启电压的影响。试验发现,在我们的工艺条件下, BF_2~+注入能量是影响 PMOS管开启电压的主要因素,能量高于 67.5Kev的 BF_2~+注入可导致开启电压正漂。而退火对开启电压正漂没有影响, F离子... 文章研究了BF_2~+注入对 PMOS晶体管开启电压的影响。试验发现,在我们的工艺条件下, BF_2~+注入能量是影响 PMOS管开启电压的主要因素,能量高于 67.5Kev的 BF_2~+注入可导致开启电压正漂。而退火对开启电压正漂没有影响, F离子也没有促进B穿透。 展开更多
关键词 ^bf2^+注入 PMOS晶体管 开启电压 CMOS器件
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